SPOTKANIE Z EKSPERTAMI

Przekażemy wiedze i doświadczenie dotyczące tomografii rentgenowskiej oraz skanowania 3D, które ułatwią Ci codzienna prace i pozwolą wejść na nowy stopień profesjonalizmu.

DWA DNI WYJĄTKOWYCH PRELEKCJI I WARSZTATÓW

Starannie dobrana tematyka pod potrzeby współczesnego przemysłu. Warsztaty pozwalające na zdobycie doświadczenia w realizacji konkretnych zadań pomiarowych.

PANELE DYSKUSYJNE

Dołącz do paneli dyskusyjnych, gdzie przedstawiciele przemysłu podzielą się swoimi doświadczeniami na temat wdrożeń technologii CT i skanowania 3D.

Odkryj najważniejsze Atrakcje CT | SCAN FORUM 2025

Podczas planowanej trzeciej edycji CT | SCAN FORUM przygotowaliśmy dla uczestników szereg wyjątkowych atrakcji, które pozwolą na zgłębienie tajników tomografii rentgenowskiej oraz skanowania 3D. Nasze warsztaty, prelekcje i pokazy praktyczne zostały starannie zaplanowane, aby dostarczyć Państwu najnowszej wiedzy oraz umożliwić zdobycie cennych umiejętności praktycznych. Zobacz, co czeka na Ciebie podczas tego dwudniowego wydarzenia!

Tomografia Rentgenowska

Prelekcje dotyczące wykorzystania tomografu w pomiarach geometrycznych – zalecenia i przykłady praktyczne.
Zdalna prezentacja tomografu rentgenowskiego V|tome|x C450 jako narzędzia do inspekcji odlewów i materiałów o dużej pochłanialności bezpośrednio na produkcji.
Warsztaty z użyciem uniwersalnego mikrotomografu rentgenowskiego V|tome|x S240 firmy Waygate Technologies wyposażonego w akcesoria firmy Cactux.
Warsztaty z wykorzystania oprogramowania Volume Graphics do analizy danych pochodzących z tomografu rentgenowskiego.

Skanowanie 3D

Warsztat niespodzianka: Zobacz, jak skanuje się wielkogabarytowe obiekty przy użyciu najnowszego modelu skanera 3D HandySCAN 3D|MAX Series.
Praktyczne zajęcia z ręcznymi i zautomatyzowanymi modelami skanerów Creaform, które pozwolą poznać techniki skanowania 3D.
Poznajcie realne przykłady zastosowania produktów Creaform i PolyWorks w zakładach przemysłowych naszych klientów. To wyjątkowa okazja, by dowiedzieć się, jak inni osiągają sukcesy z wykorzystaniem nowoczesnych technologii.
Przedstawimy Innowacyjne podejście do kontroli jakości w PolyWorks|Inspector. Zaprezentowana zostanie uniwersalność oprogramowania i adaptacja planu pomiarowego na różne rodzaje urządzeń pomiarowych, w tym skaner 3D, pomiary stykowe, maszyny współrzędnościowe CMM i sprawdziany manualne.
Zaprezentujemy najnowsze funkcje PolyWorks|Inspector i PolyWorks|DataLoop. Zobaczycie również pokaz rozszerzonej rzeczywistości PolyWorks|AR, która jest przyszłością w zarządzaniu danymi pomiarowymi.

Prelegenci

Imię i nazwisko

prof. dr hab. inż. Michał Wieczorowski

Organizacja ITA spółka z ograniczoną odpowiedzialnością Sp. k.

Imię i nazwisko

mgr inż. Dariusz Brzozowski

Organizacja ITA spółka z ograniczoną odpowiedzialnością Sp. k.

Imię i nazwisko

mgr inż. Mateusz Matuszak

Organizacja ITA spółka z ograniczoną odpowiedzialnością Sp. k.

Imię i nazwisko

dr inż. Grzegorz Ziółkowski

Organizacja Politechnika Wrocławska

Imię i nazwisko

mgr inż. Piotr Grzelak

Organizacja KIRCHHOFF Automotive

Imię i nazwisko

mgr inż. Paweł Górniak

Organizacja ITA spółka z ograniczoną odpowiedzialnością Sp. k.

Imię i nazwisko

dr inż. Maciej Szelewski

Organizacja ITA spółka z ograniczoną odpowiedzialnością Sp. k.

Imię i nazwisko

dr hab. inż. Bartosz Gapiński

Organizacja Politechnika Poznańska

Imię i nazwisko

Nikolai Hammer

Organizacja

Imię i nazwisko

mgr inż. Paweł Kosiarz

Organizacja PolyWorks Polska

Imię i nazwisko

mgr inż. Jakub Bańcer

Organizacja Fanuc Polska

Plan wydarzenia

1 Dzień Środa (02.04.2025)

9:00 – 10:00

Rejestracja

10:00 – 10:15

Agenda, powitanie

10:15 – 10:30

ITA prezentacja – Skanery laserowe oraz tomografy komputerowe we współrzędnościowej technice pomiarowej

10:30 – 11:00

I prezentacja – Czy warto wzorcować skanery 3D?

Prowadzący: dr inż. Maciej Szelewski

11:30 – 12:00

II prezentacja – Wymiar Nowoczesnej Metrologii: PolyWorks i DataLoop

Prowadzący: mgr inż. Paweł Kosiarz / mgr inż. Mateusz Kałuża

12:00 – 13:00

Lunch

13:00 – 13:30

III prezentacja – Klient case study

13:30 – 14:00

IV prezentacja – Praktyczne zastosowania tomografii w nauce i przemyśle - klient case study CT

Prowadzący: dr inż. Grzegorz Ziółkowski Politechnika Wrocławska

14:00 – 14:30

V prezentacja – Zastosowanie technologii optycznych w pomiarach elementów wielkogabarytowych

Prowadzący: mgr inż. Mateusz Matuszak

14:30 – 15:00

Przerwa kawowa

15:00 – 15:30

VI prezencja – Automatyzacja procesów pomiarowych w oparciu o skaner Creaform MetraSCAN

Prowadzący: mgr inż. Jakub Bańcer (Fanuc Polska)

15:30 – 17:00

Warsztaty

2 Dzień Czwartek (03.04.2025)

9:00 – 10:30

Warsztaty

10:30 – 11:00

Przerwa kawowa

11:00 – 11:45

Panel Ekspercki

Prowadzący: Dariusz Brzozowski

11:45 – 12:05

VII prezentacja – Zalecenia VDI/VDE 2630 w pomiarach geometrycznych z wykorzystaniem tomografu komputerowego

Prowadzący: dr hab. inż. Bartosz Gapiński - Politechnika Poznańska

12:05 – 12:25

VIII prezentacja – Tomografia komputerowa w kontroli jakości odlewów i materiałów o dużej pochłanialności - transmisja z laboratorium

Prowadzący: mgr inż. Paweł Górniak

12:25 – 12:45

IX prezentacja – PolyWorks i DataLoop - Twój partner w rozwiązywaniu codziennych problemów metrologicznych

Prowadzący: mgr inż. Paweł Kosiarz / mgr inż. Mateusz Kałuża

12:45 -13:00

Podsumowanie i zakończenie konferencji

13:00

Lunch

Lokalizacja i zakwaterowanie

Centrum Wystawienniczo Kongresowe

Wrocławska 158
45-835 Opole
Wyznacz trasę

Hotel Mercure Opole

ul. Krakowska 57-59
45-018 Opole
Wyznacz trasę

Do pobrania

Ogólne Warunki Uczestnictwa Pobierz

Regulamin dla posiadacza Vouchera ITA Pobierz

Systemy pomiarowe

Systemy narzędziowe

Automatyka pomiarowa i inspekcyjna

Usługi ITA

Mikroskop cyfrowyINSPEX 4K

KENOVA set line V244

Spektrometr OA-100S

Optyczne współrzędnościowe maszyny pomiaroweVenture FV

Odparowujący spray do skanowania 3DAESUB BLUE

Punkty referencyjne dla skanera Metrascan i C-Track

Kieszonkowe mierniki grubości powłokSeria MP0 / MP0R

Mikroskop stereoskopowyKERN OZL-46

Obserwuj nas

Forum technik CT oraz skanowania 3D CT | SCAN FORUM 2025

Dlaczego warto?

SPOTKANIE Z EKSPERTAMI

DWA DNI WYJĄTKOWYCH PRELEKCJI I WARSZTATÓW

PANELE DYSKUSYJNE

Odkryj najważniejsze Atrakcje CT | SCAN FORUM 2025

Tomografia Rentgenowska

Skanowanie 3D

Prelegenci

prof. dr hab. inż. Michał Wieczorowski

mgr inż. Dariusz Brzozowski

mgr inż. Mateusz Matuszak

dr inż. Grzegorz Ziółkowski

mgr inż. Piotr Grzelak

mgr inż. Paweł Górniak

dr inż. Maciej Szelewski

dr hab. inż. Bartosz Gapiński

Nikolai Hammer

mgr inż. Paweł Kosiarz

mgr inż. Jakub Bańcer

Plan wydarzenia

1 Dzień Środa (02.04.2025)

Rejestracja

Agenda, powitanie

ITA prezentacja – Skanery laserowe oraz tomografy komputerowe we współrzędnościowej technice pomiarowej

I prezentacja – Czy warto wzorcować skanery 3D?

II prezentacja – Wymiar Nowoczesnej Metrologii: PolyWorks i DataLoop

Lunch

III prezentacja – Klient case study

IV prezentacja – Praktyczne zastosowania tomografii w nauce i przemyśle - klient case study CT

V prezentacja – Zastosowanie technologii optycznych w pomiarach elementów wielkogabarytowych

Przerwa kawowa

VI prezencja – Automatyzacja procesów pomiarowych w oparciu o skaner Creaform MetraSCAN

Warsztaty

2 Dzień Czwartek (03.04.2025)

Warsztaty

Przerwa kawowa

Panel Ekspercki

VII prezentacja – Zalecenia VDI/VDE 2630 w pomiarach geometrycznych z wykorzystaniem tomografu komputerowego

VIII prezentacja – Tomografia komputerowa w kontroli jakości odlewów i materiałów o dużej pochłanialności - transmisja z laboratorium

IX prezentacja – PolyWorks i DataLoop - Twój partner w rozwiązywaniu codziennych problemów metrologicznych

Podsumowanie i zakończenie konferencji

Lunch

Lokalizacja i zakwaterowanie

Centrum Wystawienniczo Kongresowe

Hotel Mercure Opole

Partnerzy

Do pobrania

Opiekun wydarzenia

Jacek Wawrzyński

Prezentacja urządzeń

Zapisz się