28-02 lutego, MTP, Poznań Congress Center,
Sprawdź szczegóły
Oferta
Systemy pomiarowe
Tomografy rentgenowskie CT
Nanotomograf CT- Phoenix Nanotom® HR
Oferta
Systemy pomiarowe
Tomografy rentgenowskie CT
Nanotomograf CT- Phoenix Nanotom® HR
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz submikronowej tomografii CT o bardzo wysokiej rozdzielczości do zaawansowanych zastosowań.
Zapytaj o ofertę
Phoenix Nanotom HR na nowo definiuje tomografię CT, łącząc rozdzielczość urządzeń laboratoryjnych z codzienną uniwersalną użytecznością. Zapewnia wykrywalność detali na poziomie 50 nm, doskonały kontrast oraz szybkość akwizycji danych, skutecznie łącząc świat nauki z wysoką produktywnością.
Dzięki zastosowaniu źródła promieniowania w technologii MetalJet, detektora o dużej powierzchni aktywnej oraz zoptymalizowanemu oprogramowaniu Datos|x, Nanotom HR umożliwia uzyskiwanie danych najwyższej jakości przy zachowaniu optymalnych czasów skanowania.
Technologia MetalJet wykorzystuje anodę w postaci płynnego metalu, co znacząco poprawia skupienie wiązki oraz jakość projekcji rentgenowskich. Dzięki temu możliwe jest wykrywanie szczegółów poniżej 50 nm.
Detektor DXR S100 Pro (3008 x 2512 pikseli) o rozdzielczości 100 µm z funkcją stabilizacji temperaturowej gwarantuje najwyższą jakość danych oraz stabilność pracy w trakcie procesu akwizycji.
System Nanotom M oparty jest na podstawie granitowej z systemem antywibracyjnym dla zapewnienia stabilności pracy, co jest krytycznym aspektem dla badań, których celem jest uzyskanie możliwie najwyższej jakości danych.
Korzyści w zakresie szybkości i wykrywalności mają zastosowanie w wielu obszarach nauki, badań i innowacji, w szczególności w dziedzinach baterii, półprzewodników, mikroelektroniki, geologii oraz nauk przyrodniczych.
Umożliwia nieniszczącą inspekcję w wielu branżach jednocześnie.
Skraca czas pracy i przyspiesza procesy.
Kiedy wybrać:
Gdy chcesz wykorzystać przemysłowy CT do seryjnej, zautomatyzowanej kontroli produkcji lub precyzyjnych pomiarów 3D.
Broszura produktowa
Phoenix Nanotom® HR jest wykorzystywany w wielu zaawansowanych aplikacjach, takich jak półprzewodniki oraz mikroelektronika, geologia, nauki przyrodnicze (life sciences), a także w badaniach naukowych i pracach badawczo-rozwojowych (R&D).
System wspiera badania w inżynierii materiałowej i geologii, umożliwia ocenę integralności połączeń w zaawansowanych modułach elektronicznych, analizę porowatości elektrod bateryjnych oraz inspekcję złączy w układach PCB. Dzięki submikronowej rozdzielczości, szybkiej akwizycji danych i stabilnej pracy zapewnia praktyczne i niezawodne rozwiązanie zarówno dla badań naukowych, jak i innowacji przemysłowych.
Phoenix Nanotom® HR pozwala zachować najwyższy poziom szczegółowości danych przy jednoczesnym znaczącym skróceniu czasu skanowania. Umożliwia uzyskanie ultrawysokiej rozdzielczości w znacznie krótszym czasie w porównaniu z technologiami opartymi na powiększeniu optycznym — na przykład redukując czas skanu z 120 do 40 minut przy voxelu 0,5 µm oraz z 60 do zaledwie 10 minut przy voxelu 1,0 µm. Połączenie szybkości i precyzji przekłada się na szybsze wyniki, krótsze cykle badawczo-rozwojowe oraz sprawniejszą kontrolę jakości w produkcji.
Kiedy wybrać:
Gdy szukasz systemu najwyższej klasy oferującego niespotykaną jakość danych dla wymagających aplikacji.
Kiedy wybrać:
Gdy szukasz systemu do skanowania małych próbek z najwyższą możliwą rozdzielczością.
Kiedy wybrać:
Gdy szukasz uniwersalnego systemu do skanowania lekkich metali oraz tworzyw sztucznych.
Kiedy wybrać:
Gdy szukasz systemu do skanowania dużych elementów lub wykonanych z gęstych materiałów.
Artykuł przedstawia podstawowe zagadnienia związane budową i parametrami przemysłowych tomografów rentgenowskich. Odpowiadamy na pytania, jak działają lampy rentgenowskie, jakie są ich rodzaje oraz co decyduje o jakości urządzenia rentgenowskiego.
Technika CT odgrywa coraz ważniejszą rolę w metrologii. Do niedawna kontrola jakości ograniczała się do pomiarów stykowych i optycznych, jednak w przypadku analizy niewidocznych geometrii czy struktury materiału konstruktorzy pozostawali bezradni. Dzięki wykorzystaniu tomografii komputerowej tego typu pomiary stały się możliwe. Wykonując nieniszczące badanie na jednym urządzeniu CT, można przeprowadzić kompleksowo szereg analiz metrologicznych, a tym samym zaoszczędzić czas oraz podnieść efektywność i jakość produkcji.
Zapytaj o produkt 
Zadzwoń 
Zapytaj o produkt
