Nowość

System inspekcyjny do badania elektroniki Phoenix Nanome|x Neo

System NanomeIx 180 neo neo jest skutecznym oraz niezawodnym
rozwiązaniem dla szerokiego spektrum zadań inspekcji 2D oraz 3D elektroniki. Znajduje zastosowanie na etapie wdrożenia nowego produktu, podczas kontroli procesu produkcyjnego, a także w przypadku analizy przyczyn awarii gotowego produktu. Bogata oferta rozwiązań firmy Waygate Technologies daje możliwość indywidualnej konfiguracji systemu względem potrzeb użytkownika.

Cechy produktu:

• detektory DXR o dużym zakresie dynamiki zapewniają obrazy najwyższej jakości
• lampy micro- oraz nanofocus z wykrywalnością szczegółów od 0,2mm zapewniają szeroki zakres inspekcji elementów elektronicznych
• łatwość obsługi oraz automatyczne generowanie raportu z inspekcji
• zminimalizowany czas konfiguracji dzięki zautomatyzowanemu programowaniu CAD
• autorska technologia OVHM umożliwia zsynchronizowany ruch detektora oraz manipulatora w celu łatwego ustawienia żądanego widoku
• niezwykle wysoka skuteczność oraz powtarzalność wykrywania defektów

Opcje dodatkowe:

Pakiet automatyzacji X|act
Programowania automatycznej inspekcji w oparciu o model CAD.

Flash!Electronics™
Autorska technologia wizualizacji obrazu firmy Waygate Technologies, zoptymalizowana pod kątem kontroli
jakości elektroniki.

Dose|manager
Pakiet low-dose wraz z technologią Shadow|target pozwalający w czasie rzeczywistym na zarządzanie i
redukcje niepotrzebnej dawki promieniowania, zapobiegając uszkodzeniom wrażliwych obiektów badań.

Jednostka Tilt / rotate
Uchwyt pozwalający na pochylenie ± 45° i obrót n x 360° dla próbek do 2kg.

Czytnik kodów kreskowych
Do identyfikacji produktu.

PlanarCT
Nieniszcząca ocena przekrojów 2D i objętości 3D wraz z oprogramowaniem 3D|viewer.

Tomografia komputerowa (CT)
Rozszerzenie systemu o oprogramowanie do akwizycji i rekonstrukcji danych 3D (tomografia komputerowa)
Phoenix datoslx oraz dodatkowo o specjalną jednostką CT do mocowania próbek (precyzyjna oś obrotu,
maks. powiększenie geometryczne: 100x (CT), maks. rozdzielczość woksela: do 2μm, rozdzielczość zależna
od wielkości próbki).