Zapytaj o produkt
FAQ
Co to jest tomografia komputerowa (CT) w badaniach nieniszczących?
Tomografia komputerowa (CT) to zaawansowana metoda badań nieniszczących (NDT), która umożliwia pełne odwzorowanie 3D geometrii zewnętrznej i wewnętrznej obiektu bez konieczności jego przecinania. Pozwala wykrywać wady ukryte, analizować złożone konstrukcje i wykonywać precyzyjne pomiary elementów niedostępnych dla tradycyjnych metod inspekcji.
Jakie są rodzaje przemysłowych tomografów rentgenowskich?
- Nanotomografy – wykrywalność szczegółów od 50 nm, idealne do badań mikrostruktur,
- Mikrotomografy – doskonały kompromis między rozdzielczością a mocą
Do osobnej kategorii urządzeń można zaliczyć tomografy wykorzystujące źródła o wysokim napięciu i mocy – lampy od 450 kV oraz akceleratory liniowe, umożliwiające skanowanie dużych, gęstych elementów.
Do czego stosuje się tomografię przemysłową?
- kontroli jakości i weryfikacji wymiarowej,
- inspekcji spoin i połączeń lutowanych,
- analizy porowatości materiałów,
- badań komponentów elektronicznych,
- pomiarów współrzędnościowych,
- analizy uszkodzeń w badaniach materiałowych.
Jakie zalety ma tomografia rentgenowska w porównaniu z innymi metodami NDT?
Tomografia CT umożliwia oglądanie i pomiar wnętrza obiektu bez jego niszczenia, oferuje trójwymiarową wizualizację i wysoką precyzję pomiarów, a także pozwala na automatyczną analizę danych oraz integrację z systemami CAD.
Czy możliwe jest skanowanie dużych i gęstych obiektów?
Tak, w tym celu stosuje się systemy z lampami minifocus (do 450 kV), które umożliwiają penetrację dużych elementów i materiałów o dużej gęstości.
Czy tomografy można zintegrować z systemami CAD i pomiarami współrzędnościowymi?
Tak. Dane z tomografów CT mogą być eksportowane do formatów zgodnych z popularnymi systemami CAD, co umożliwia porównanie z modelem nominalnym oraz integrację z pomiarami współrzędnościowymi.
Czy metrologia CT może zastąpić CMM?
CT pozwala mierzyć wnętrze części i złożone geometrie bez cięcia próbek, więc świetnie uzupełnia CMM. Pomiary współrzędnościowe wciąż są bardzo dokładne dla powierzchni zewnętrznych i baz odniesienia. Najlepsze efekty daje łączenie obu metod zależnie od cech i tolerancji.
