Spektrometr FISCHERSCOPE X-RAY XULM 240

Spektrometr FISCHERSCOPE X-RAY XULM 240 został zaprojektowany z myślą o precyzyjnych, nieniszczących pomiarach grubości powłok jedno- i wielowarstwowych, w tym również powłok stopowych oraz zawierających metale. Dzięki lampie rentgenowskiej typu micro-focus urządzenie umożliwia skuteczne wzbudzanie pierwiastków lekkich, co znacząco podnosi dokładność pomiarów nawet na bardzo małych elementach – już od 0,2 mm.

Specjalna konstrukcja komory pomiarowej w kształcie litery „C” pozwala na wygodne badanie dużych, płaskich próbek, a zestaw czterech automatycznie przełączanych kolimatorów gwarantuje optymalny dobór parametrów dla różnych zastosowań. Spektrometr XULM 240 doskonale sprawdza się także w analizie głównych składników kąpieli galwanicznych, oferując kompleksowe możliwości kontrolne w przemyśle elektronicznym i galwanotechnicznym.

Cechy produktu:

• urządzenie przystosowane do nieniszczących pomiarów grubości powłok jedno i wielowarstwowych w tym stopowych i innych zawierających metale w szczególności na drobnych przedmiotach (0,2mm)

• analiza głównych składników kąpieli w przemyśle galwanicznym

• odległość pomiarowa 0-25mm

• lampa microfocus efektywnie wzbudzająca pierwiastki lekkie

• komora pomiarowa z wcięciem w kształcie litery C dla pomiarów na dużych i płaskich próbkach

• cztery automatyczne przełączenia kolimatory (przesłony)