Spektrometr iskrowy OES Metal Lab Plus GNR

• Fotopowielacze i matryce CMOS dla niskich progów detekcji i elastyczności systemu.
• Próżniowa komora optyczna o dużej ogniskowej, umożliwiająca analizę śladowych ilości pierwiastków.
• Szeroki zakres analiz stopów metali kolorowych i stali, w tym stali nierdzewnych, aluminium, miedzi i tytanu.

Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz mierzyć śladowe ilości pierwiastków w stopach metali.

• Precyzyjne analizy śladowych ilości pierwiastków w ciekłych próbkach.
• Jednoczesna analiza wielu pierwiastków od Na do Pu.
• Zautomatyzowany stolik dla 12 próbek oraz możliwość pracy w atmosferze helu.

Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz mierzyć śladowe ilości pierwiastków z wykorzystaniem technologii TXRF.

• Szybkie i precyzyjne analizy składu stali oraz stopów miedzi, aluminium, niklu, tytanu czy kobaltu.
• Solidna, mobilna konstrukcja dedykowana do pracy w terenie.
• Oprogramowanie umożliwiające określenie typu stopu oraz tworzenie raportów z analiz.

Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz precyzyjnie badać skład bez wycinania próbki materiału.

• Kompaktowy i niezawodny spektrometr do analizy m.in stali, stopów aluminium i miedzi.
• Wysoka jakość pomiarów przy niewielkich rozmiarach urządzenia.
• Progi detekcji dla większości pierwiastków już od 50 ppm (0,005%).

Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz kompaktowego spektrometru do codziennych analiz składu pierwiastkowego.

• Analiza metali pochodzących ze zużycia części mechanicznych w olejach.
• Wczesne wykrywanie awarii maszyn.
• Zgodność z normami ASTM i D6595-00.
  
  

Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz monitorować obecność metali zużyciowych w oleju silnikowym.

• Kompaktowy i niezawodny spektrometr do analizy m.in stali, stopów aluminium i miedzi.
• Możliwość analizy azotu w stalach oraz litu i sodu w aluminium.
• Progi detekcji dla większości pierwiastków już od 10 ppm (0,001%).

Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz kompaktowego spektrometru do zaawansowanych analiz składu pierwiastkowego.

• Precyzyjne analizy śladowych ilości pierwiastków.
• Analiza ciekłych próbek środowiskowych, żywnościowych, biologicznych oraz przemysłowych.
• Niewielka ilość materiału potrzebnego do analizy (5μl).

Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz analizy śladowych ilości pierwiastków z wykorzystaniem technologii TXRF.

• Wyposażony w matrycę CMOS o wysokiej czułości, aby zapewnić najlepszą jasność, wraz z długością fali od 119 nm do 850 nm.
• Nadaje się do wymagających zastosowań.
• Kontrola jakości w metalu- analiza z wykorzystaniem OES/RDE.

Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz szybkiej i bardzo precyzyjnej analizy składu metali i stopów w laboratorium.