28-02 lutego, MTP, Poznań Congress Center,
Sprawdź szczegóły
Oferta
Systemy pomiarowe
Spektrometry
Spektrometr XRF FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230 Helmut Fischer
Oferta
Systemy pomiarowe
Spektrometry
Spektrometr XRF FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230 Helmut Fischer
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz wykonywać precyzyjne pomiary powłok galwanicznych na małych i dużych próbkach.
Zapytaj o ofertę
FISCHERSCOPE X‑RAY XDL 230 to stacjonarny spektrometr fluorescencji rentgenowskiej (XRF), przeznaczone do nieniszczących pomiarów grubości powłok metalicznych — jedno‑ i wielowarstwowych. Dzięki temu możliwe jest szybkie i dokładne sprawdzenie powłok ochronnych, dekoracyjnych lub funkcjonalnych na elementach produkowanych seryjnie.
Dla działów kontroli jakości i produkcji oznacza to możliwość realnej kontroli powłok bez uszkadzania detali, przy dużej wydajności — nawet przy częstych pomiarach seryjnych.
XDL 230 wykorzystuje metodę EDXRF (fluorescencji rentgenowskiej z dyspersją energii) z wolframową lampą rentgenowską detektorem w typie licznika proporcjonalnego. Podczas pomiaru wiązka promieniowania skierowana jest w dół, a próbka umieszczana jest na stoliku pomiarowym.
Model XDL 230 wyposażony jest w ręczny stolik XY o zakresie ruchu 95×150 mm oraz poruszaną automatycznie głowicą (góra i dół) z zakresem do 140 mm.
Urządzenie oferuje w standardzie kolimator 0,3 mm lub też opcjonalną zamianę na 0,1 mm, 0,2 mm lub kolimator szczelinowy 0,3×0,05 mm, co umożliwia dopasowanie powierzchni pomiarowej do konkretnych zadań.
Umożliwia szybkie badanie wielu detali w krótkim czasie.
Jeden system pokrywa bardzo szeroki zakres zastosowań produkcyjnych.
Pozwala wykrywać problemy w procesie zanim pojawią się w produkcji i na gotowym wyrobie.
Kiedy wybrać:
Gdy używasz spektrometrów XRF FISCHER i potrzebujesz jednego środowiska do pomiarów, analizy i raportowania.
Broszura informacyjna analiza kąpieli galwanicznych
Broszura informacyjna narzędzia pokryte powłokami PVD
Broszura informacyjna rozpoznawanie elementów na płytkach PCB
Broszura informacyjna elementy złączne w środowiskach korozyjnych
Nie, urządzenie działa metodą XRF, która nie narusza struktury elementu. Detal po badaniu nadaje się do dalszego wykorzystania.
Tak, dzięki kolimatorowi 0,3 mm możliwy jest pomiar powierzchni niewielkich detali i elementów.
Tak, dzięki krótkiemu czasowi pomiaru i prostej obsłudze XDL 230 sprawdza się w kontroli jakości w dużych zakładach produkcyjnych.
Tak, przy zastosowaniu odpowiednich akcesoriów możliwa jest analiza stężenia metali w roztworach, co wspiera stabilność procesu.
Tak, system umożliwia analizę wielowarstwowych struktur metalicznych stosowanych m.in. w galwanizacji, elektronice i PVD.
Kiedy wybrać:
Gdy dopuszczasz możliwość uszkodzenia próbki podczas grubości powłoki.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz niezawodnego systemu do kontroli bardzo cieńkich powłok, kąpieli galwanicznych i złota.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz szybkiej i pewnej analizy stopów złota w jubilerstwie lub obrocie metalami szlachetnymi.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz ekonomicznego rozwiązania z pomiarem od góry dla bardzo cieńkich powłok.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz regularnej kontroli kąpieli galwanicznej bez angażowania załogi.
Kiedy wybrać:
Idealnie nadaje się do zastosowań w zakresie cienkich i bardzo cienkich powłok < 0,05 µm oraz do analizy materiałowej w zakresie ppm.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz dokładnego pomiaru cienkich powłok.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebna jest szybka i precyzyjna analiza XRF szerokiego zakresu materiałów i powłok w warunkach laboratoryjnych oraz kontroli jakości.
Zapytaj o produkt 
Zadzwoń 
Zapytaj o produkt