koszyk
Start Oferta Systemy pomiarowe Spektrometry FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL

Spektrometr FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL

Producent: HELMUT FISCHER
Spektrometr XDAL jest przystosowany do analiz bardzo cienkich powłok w elektronice i przemyśle motoryzacyjnym. Dzięki zastosowani lampy rentgenowskiej typu micro-focus uzyskuje się bardzo małe przestrzenie pomiarowe, dodatkowo zestaw automatycznie przełączanych kolimatorów oraz filtrów pozwala dobrać optymalne parametry wzbudzenia dla danej aplikacji. Urządzenie jest niezwykle funkcjonalne dzięki zmotoryzowanemu programowalnemu stolikowi pomiarowemu.

Masz pytania? Chcesz zamówić? Skontaktuj się z nami!

Spektrometr FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL
+ 11

Opis produktu

piktogram
Usługa pomiarowa
piktogram
Serwis gwarancyjny i pogwarancyjny
piktogram
Profesjonalne doradztwo
piktogram
Szkolenie produktowe
piktogram
Szybkie ofertowanie
piktogram
Oprogramowanie w języku polskim
piktogram
Prezentacja zdalna

Spektrometr XDAL jest przystosowany do analiz bardzo cienkich powłok w elektronice i przemyśle motoryzacyjnym. Dzięki zastosowani lampy rentgenowskiej typu micro-focus uzyskuje się bardzo małe przestrzenie pomiarowe, dodatkowo zestaw automatycznie przełączanych kolimatorów oraz filtrów pozwala dobrać optymalne parametry wzbudzenia dla danej aplikacji. Urządzenie jest niezwykle funkcjonalne dzięki zmotoryzowanemu programowalnemu stolikowi pomiarowemu.

Cechy produktu:

  • urządzenie przeznaczone do nieniszczących pomiarów grubości powłok jedno i wielowarstwowych w tym stopowych i innych zawierających metale
  • urządzenie przeznaczone do pomiarów grubości cienkich powłok oraz podstawowych analiz składu
  • analiza składników kąpieli w przemyśle galwanicznym (od 0,2g/l)
  • badanie grubości cienkich powłok w przemyśle elektronicznym (złącza, płytki PCB, układy scalone)
  • przestrzenna komora z wcięciem w kształcie litery C dla pomiarów na dużych płaskich próbkach
  • cztery automatycznie przełączane kolimatory (przesłony)


Zastosowanie:

  • analiza powłok i stopów (również cienkich powłok i niewielkich ilości pierwiastków)
  • kontrola dostaw, monitoring produkcji
  • działy badań i rozwoju
  • przemysł elektroniczny
  • złącza i konektory
  • przemysł złotniczy i zegarmistrzowski
  • pomiar cienkich powłok Au i Pd, nawet kilku nanometrowych na płytkach obwodów drukowanych
  • analiza śladowych ilości pierwiastków
  • określanie zawartości ołowiu (Pb) w urządzeniach wymagających dużej niezawodności
  • analiza twardych powłok metalicznych

Specyfikacja

Specyfikacja techniczna spektrometru FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL
Kierunek pomiaru:

z góry na dół

Typ detektora:

PIN

Stolik pomiarowy:

zmotoryzowany
 

Stolik pomiarowy:

XDL 240 - zmotoryzowany

Zakres ruchu stolika:

255x235 mm

Zakres ruchu stolika:

XDL 240 - 255x235 mm

Maksymalna masa próbki:

20 kg

Filtry:

Ni, Al, bez filtra

Lampa rentgenowska:

microfocus

Kolimatory przełączane:

ø0,1 I 0,3 I 0,6 I
0,5x0,15

Wymiary wewnętrzne komory:

460x495x140 mm

Zasilanie:

AC 115V lub AC 230V 50/60 Hz

Wymiary:

570x650x760 mm

Masa:

120 kg

Oprogramowanie:

Standard: Fischer WinFTM® BASIC łącznie z PDM®
Opcja: Fischer WinFTM® SUPER

Certyfikaty:

EN 61010

Certyfikaty:

DIN ISO 3497 oraz ASTM B 568
Urządzenie nie wymaga nadzoru PAA (Państwowej Agencji Atomistyki)

Do pobrania

Dowiedz się więcej

Skontaktuj się z nami, nasi eksperci pomogą dobrać produkt pod Twoje indywidualne potrzeby i przygotują ofertę.

Zobacz również

Usługi

logo-ITA
ITA spółka z ograniczoną odpowiedzialnością Sp. k.
ul. Poznańska 104, Skórzewo,  60-185 Poznań
tel: +48612225800 fax: +48612225801
created by: montownia.com