Systemy pomiarowe

Systemy pomiarowe

Profilometry i konturografy Urządzenia do badania odchyłek kształtu Optyczne systemy oceny stanu powierzchni Skanery elementów obrotowych Pneumatyczne systemy do pomiaru geometrii Optyczne urządzenia do pomiaru nierówności i kształtu Skanery 3D Optyczne maszyny pomiarowe 3D Współrzędnościowe maszyny pomiarowe Projektory pomiarowe Mikroskopy

Tomografy rentgenowskie Rentgenowskie systemy inspekcyjne Średnicówki Diatest Systemy mocowania przedmiotów Wzorce długości i kąta Płyty i wzorce granitowe Klasyczne przyrządy pomiarowe Mierniki grubości powłok Przyrządy do badania właściwości materiałowych i powłok Spektrometry Spektrometry XRF do badania składu złota i metali szlachetnych

Dyfraktometry rentgenowskie Twardościomierze Przyrządy do badania gęstości Systemy pomiaru siły i momentu Maszyny wytrzymałościowe Urządzenia do badania żywności Urządzenia do badania tekstyliów Akcesoria Endoskopy Urządzenia do pomiaru wałów i osi

Systemy narzędziowe

Systemy narzędziowe

Narzędzia frezarskie Wiertła i narzędzia do obróbki gwintu Oprawki i systemy mocowania narzędzi Oprawki do gratowania, fazowania i grawerowania Ustawiacze narzędziowe Systemy monitorowania procesów produkcyjnych Systemy mocowania przedmiotów obrabianych Wyposażenie warsztatowe Inspekcja obrabiarek Narzędzia i elementy z węglików spiekanych i innych materiałów trudnoobrabialnych Systemy narzędziowe EWS

Automatyka pomiarowa i inspekcyjna

Automatyka pomiarowa i inspekcyjna

Czujniki laserowe LMI Czujniki światła strukturalnego LMI Czujniki konfokalne LMI Roboty przemysłowe Mecademic Czujniki pojemnościowe Lion Precision Czujniki wiroprądowe Lion Precision Czujniki etykiet Lion Precision

Usługi ITA

Usługi ITA

Laboratorium wzorcujące ITA Usługi skanowania 3D Badanie i pomiary metodą tomografii komputerowej (CT) Pomiary wytrzymałości materiałów Pomiary momentu obrotowego Stykowe i optyczne pomiary nierówności i topografii powierzchni Pomiary siły Pomiary twardości materiałów Optyczne pomiary wielkości geometrycznych Stykowe i optyczne pomiary zarysu kształtu (konturu) Pomiary fotogrametryczne

Pomiary grubości powłok Badanie zawartości ferrytu w stalach Badanie składu pierwiastkowego (spektrometria) Usługi szkoleniowe Usługi serwisowe

Forum technik CT oraz skanowania 3D Serdecznie zapraszamy do udziału w trzeciej edycji, dwudniowej konferencji szkoleniowej CT | SCAN FORUM, która odbędzie się w dniach 2-3 kwietnia 2025 roku...

koszyk

Start
Oferta
Systemy pomiarowe
Spektrometry
FISCHERSCOPE X-RAY XAN 250/252

FISCHERSCOPE X-RAY XAN 250/252

Spektrometr

Producent: HELMUT FISCHER

Uniwersalny spektrometr fluorescencji rentgenowskiej o bardzo dużych możliwościach, do szybkich i nieniszczących analiz składu i pomiarów grubości powłok.

Masz pytania? Chcesz zamówić? Skontaktuj się z nami!

Dowiedz się więcej

Spektrometr FISCHERSCOPE X-RAY XAN 250/252

Opis produktu

Prezentacja u klienta

Usługa pomiarowa

Serwis gwarancyjny i pogwarancyjny

Profesjonalne doradztwo

Szkolenie produktowe

Szybkie ofertowanie

Oprogramowanie w języku polskim

Prezentacja w ITA

Prezentacja zdalna

Uniwersalny spektrometr fluorescencji rentgenowskiej o bardzo dużych możliwościach, do szybkich i nieniszczących analiz składu i pomiarów grubości powłok.

Cechy produktu:

zaawansowany spektrometr o szerokim zastosowaniu
pomiary grubości powłok galwanicznych już od kilku nm
badania składu stopów złotniczych, pyłów, past
analiza składników kąpieli w przemyśle galwanicznym
badanie zgodności z dyrektywą RoHS
detektor SDD o wysokiej rozdzielczości
cztery automatycznie przełączane kolimatory (przesłony)

Typowe zastosowania:

pomiary powłok funkcyjnych, zaczynając już od kilku nanometrów w przemyśle elektronicznym i półprzewodnikowym
analizy śladowych ilości pierwiastków niebezpiecznych np. zawartość ołowiu w zabawkach
analizy stopów gdy wymagana jest najwyższa dokładność analiz np. w przemyśle jubilerskim, zegarmistrzowskim oraz przy produkcji stopów
badania uniwersyteckie i przemysłowe

Oprogramowanie

Oprogramowanie WinFTM®

Zaawansowane oprogramowanie spektrometrów XRF firmy FISCHER. Umożliwia pomiary grubości powłok, badanie składu, zarówno kalibracyjne jak i z wykorzystaniem jedynie metody parametrów fundamentalnych. Intuicyjna obsługa i szereg udogodnień zapewniają sprawną pracę w warunkach przemysłowych.

Specyfikacja

Specyfikacja techniczna spektrometru FISCHERSCOPE® X-RAY XAN 250/252

Kierunek pomiaru:

od dołu do góry

Typ detektora:

SDD

Stolik pomiarowy:

XAN 250 – nieruchomy

Stolik pomiarowy:

XAN 252 – ręczny

Zakres ruchu stolika:

XAN 250 - nie dotyczy

Zakres ruchu stolika:

XAN 252 - 30x40 mm

Maksymalna masa próbki:

XAN 250 – 13 kg

Maksymalna masa próbki:

XAN 252 – 2 kg

Filtry:

Ni, Al1000, Al500, Al100, Mylar100, bez filtra

Lampa rentgenowska:

microfocus

Kolimatory przełączane:

ø0,2 I 0,6 I 1 I 2 mm

Wymiary wewnętrzne komory:

XAN 250 - 310x320x90 mm

Wymiary wewnętrzne komory:

XAN 252 - 310x320x174 mm

Masa:

45 kg

Wymiary:

XAN 220 - 310x320x90 mm

Wymiary:

XAN 222 - 444x588x365

Zapytaj o produkt

Zadzwoń do nas

+48 61 222 58 11

Skontaktuj się z nami, nasi eksperci pomogą dobrać produkt
pod Twoje indywidualne potrzeby i przygotują ofertę.

Zobacz również

Usługi

pomiar-grubosci-powlok

Pomiary grubości powłok

Nieniszczące pomiary grubości powłok zarówno metalicznych, jak i niemetalicznych na różnych podłożach, pomiary na bardzo małych przedmiotach.

badanie-skladu-pierwiastkowego

Badanie składu pierwiastkowego (spektrometria)

Badanie składu pierwiastkowego stopów metali, analizy na zgodność z RoHS, badanie składu metali szlachetnych.

Powiązane akcesoria i produkty

Wymienne sondy do pomiaru grubości powłok Sondy pomiarowe

Firma Fischer posiada w swojej ofercie najszerszą na rynku gamę sond pomiarowych dla różnych...

XAN500 to przenośne urządzenie do mierzenia grubości powłok wykorzystujące zjawisko fluorescencji...

Mierniki grubości powłok z wymiennymi sondami serii DMP 30-40

Seria DMP to nowa generacja ręcznych mierników z wymiennymi sondami umożliwiająca...

Spektometr Spektrometr FISCHERSCOPE X-RAY XULM 240

Spektrometr FISCHERSCOPE X-RAY XULM 240 został zaprojektowany z myślą o precyzyjnych,...

Wstecz

Strona główna

Powrót do góry

ITA spółka z ograniczoną odpowiedzialnością Sp. k.

ul. Poznańska 104, Skórzewo, 60-185 Poznań

tel: +48612225800 fax: +48612225801

Wydarzenia w ITA

W najbliższym czasie nie planujemy żadnych wydarzeń, ale możesz zapisać się do naszego newslettera, a my poinformujemy Cię o nadchodzących wydarzeniach.

created by: montownia.com