koszyk

Stacjonarny przyrząd do pomiaru chropowatości Waveline W800R/W900R

Producent: Hommel-Etamic
Waveline W800R/W900R firmy Jenoptik (Hommel-Etamic) to uniwersalny system do pomiaru chropowatości. Modułowa konstrukcja urządzenia zapewnia możliwość obliczania wszystkich znormalizowanych parametrów profilu chropowatości i falistości oraz ocenę cech geometrycznych.

Masz pytania? Chcesz zamówić? Skontaktuj się z nami!

Stacjonarny przyrząd do pomiaru chropowatości Waveline W800R/W900R
+ 06

Opis produktu

piktogram
Usługa pomiarowa
piktogram
Serwis gwarancyjny i pogwarancyjny
piktogram
Profesjonalne doradztwo
piktogram
Szkolenie produktowe
piktogram
Szybkie ofertowanie
piktogram
Oprogramowanie w języku polskim
piktogram
Usługa wzorcowania
piktogram
Prezentacja w ITA

Waveline W800R/W900R firmy Jenoptik (Hommel-Etamic) to uniwersalny system do pomiaru chropowatości. Modułowa konstrukcja urządzenia zapewnia możliwość obliczania wszystkich znormalizowanych parametrów profilu chropowatości i falistości oraz ocenę cech geometrycznych, takich jak: odległości, kąty, promienie, itp. Koncepcja “plug and measure” pozwala na indywidualną konfigurację urządzenia. Zestaw dodatkowo może być wyposażony w stolik CNC umożliwiający sterowanie przemieszczaniem mierzonego elementu w kierunku osi Y, co umożliwia uzyskanie topografii powierzchni. W Najnowszej generacji urządzeń serii Waveline do pomiaru konturu i chropowatości głowice pomiarowe charakteryzują się zwiększoną rozdzielczością, co pozwala przeprowadzać jeszcze dokładniejsze pomiary. Kilkukrotnie wyższe prędkości pozycjonowania powalają skrócić czas trwania programu pomiarowego do minimum.

Cechy produktu:

  • pomiar metodą stykową
  • intuicyjne oprogramowanie sterujące i raportujące EVOVIS, dostępne w języku polskim
  • duży zakres pomiarów chropowatości do 1600 µm
  • możliwość zastosowania w hali produkcyjnej i laboratorium
  • oszczędność czasu dzięki automatyzacji pomiarów w trybie CNC
  • wyposażony w kontroler do szybkiego pozycjonowania osi

Specyfikacja

Specyfikacja techniczna stacjonarnego przyrządu do pomiaru konturu i chropowatości Waveline W800R/W900R
Model:
W800R
W900R
Głowica:
TKU400
TKU400
Zakres pomiarowy:
do 1600 µm
do 1600 µm
Rozdzielczość:
od 1 nm
od 1 nm
Nacisk pomiarowy:
0,8 mN
0,8 mN
Identyfikacja ramienia pomiarowego:
tak
tak
Regulacja nacisku pomiarowego:
tak
tak
Końcówka pomiarowa:
diamentowa 2 µm/90˚
diamentowa 2 µm/90˚
Mocowanie końcówki pomiarowej:
magnetyczne
magnetyczne
Zakres pomiarowy w osi X:
120/200 mm
120/200 mm
Rozdzielczość w osi X:
0,1 µm
0,01 µm
Prędkość pomiarowa:
0,1-3 mm/s
0,1-3 mm/s
Prędkość pozycjonowania w osi X:
do 20 mm/s
do 200 mm/s
Prostoliniowość jednostki napędowej:
≤0,4 µm/120 mm
≤0,6 µm/200 mm
≤0,2 µm/120 mm
≤0,4 µm/200 mm
Zakres pionowy przesuwu kolumny pomiarowej:
500 lub 800 mm
500 lub 800 mm
Funkcja automatycznego zerowania:
tak
tak
Prędkość pozycjonowania w osi Z:
do 20 mm/s
do 80 mm/s
Powtarzalność pozycjonowania w osi Z:
≤50 µm
≤10 µm
Wymiary płyty granitowej:
700x520x100 mm lub 1000x520x140 mm
700x520x100 mm lub 1000x520x140 mm
Opcje:
stolik X Y, aktywny system tłumienia drgań, akcesoria
stolik X Y, aktywny system tłumienia drgań, akcesoria

Do pobrania

Dowiedz się więcej

Skontaktuj się z nami, nasi eksperci pomogą dobrać produkt pod Twoje indywidualne potrzeby i przygotują ofertę.

Zobacz również

Usługi

logo-ITA
ITA spółka z ograniczoną odpowiedzialnością Sp. k.
ul. Poznańska 104, Skórzewo,  60-185 Poznań
tel: +48612225800 fax: +48612225801
created by: montownia.com