28-02 lutego, MTP, Poznań Congress Center,
Sprawdź szczegóły
Oferta
Systemy pomiarowe
Profilometry i konturografy
System do pomiar chropowatości i konturu Waveline W800 W900 Surfscan
Oferta
Systemy pomiarowe
Profilometry i konturografy
System do pomiar chropowatości i konturu Waveline W800 W900 Surfscan
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz pomiarów chropowatości i konturu 3D z integracją produkcyjną.
Zapytaj o ofertę
Waveline W800/W900 z głowicą Surfscan to zaawansowany stacjonarny system pomiarowy łączący funkcje profilometru i konturografu w jednym urządzeniu. Zaprojektowany jako alternatywa dla zestawów dwóch oddzielnych przyrządów, Surfscan pozwala oszczędzić czas i eliminować konieczność przełączania głowic. Oba pomiary mogą być zrealizowane w jednym przejściu końcówki pomiarowej.
Dzięki głowicy Surfscan możliwy jest równoczesny pomiar chropowatości i konturu w jednym przejściu, bez konieczności wymiany ramienia pomiarowego. Zakres pracy wynosi do 16 mm, co pozwala mierzyć powierzchnie zakrzywione, pochyłe i mikrogeometrię. System jest modułowy i pozwala dopasować konfigurację do aplikacji i potrzeb użytkownika końcowego. Poprzez zastosowanie unikalnego rozwiązania przesuwu całej jednostki napędowej, system gwarantuje optymalny dostęp do pozycji pomiarowych niezależnie od pozycji napędu. Magnetyczne mocowania zapewniają wygodę obsługi oraz zabezpieczenie kluczowych podzespołów w przypadku błędów operatora.
System współpracuje z oprogramowaniem Evovis umożliwiając zaawansowaną analizę profilu, raportowanie, porównywanie profili i eksport danych do systemów SPC (format Q-DAS / AQDEF oraz ASCII). Implementacja nowych standardów, w tym zgodność z ISO 21920, zapewnia jakość pomiarów zgodnie z obecnymi wymaganiami przemysłu. Moduł CNC pozwala w łatwy sposób zautomatyzować pomiar, co ogranicza rolę operatora i jego wpływ na uzyskiwane wyniki.
Zaprojektowana do pomiaru chropowatości i konturu w jednym przejściu końcówki pomiarowej. Eliminuje to konieczność przezbrojenia systemu i znacząco skraca czas inspekcji.
System automatycznie rozpoznaje podłączoną głowicę i ramie pomiarowe. Natychmiastowo wczytuje parametry pracy oraz zapisane dane kalibracyjne.
Systemy W800/W900 są modułowe i umożliwiają rozbudowę oraz dostosowanie do zmieniających się wymogów. W każdym momencie system można wyposażyć w dodatkowe osie zmotoryzowane lub nowe opcje oprogramowania.
Oszczędność czasu i kompletne dane o powierzchni w jednym raporcie.
Bezbłędna konfiguracja i szybka zmiana akcesoriów bez ryzyka pomyłki.
Pełna zgodność z wymaganiami audytów jakości i łatwe raportowanie wyników
Pełny obraz struktury powierzchni i możliwość wykrywania cech niewidocznych w klasycznym profilu 2D.
Kiedy wybrać:
Gdy chcesz w jednym programie oceniać chropowatość i kontur oraz generować kompletne raporty.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz jednej platformy do analizy danych z profilometrów i mikroskopów, zgodnej z normami.
Aby urządzenie zachowało deklarowaną dokładność, potrzebuje okresowego wzorcowania. Możesz je wykonać w Laboratorium ITA, akredytowanym wg ISO 17025, które wzorcuje profilometry stykowe . Dzięki temu masz pewność wiarygodnych wyników i zgodności z wymaganiami jakości.
Zapraszamy do firmy ITA. Pokażemy urządzenie w akcji. Sprawdzisz je w praktyce i dostaniesz konkretne odpowiedzi.
Broszura informacyjna urządzeń Waveline W800/W900
Chropowatość i kontur powierzchni w jednym przejściu pomiarowym.
W900 posiada dodatkowe mocowanie głowicy (tylko TKU400) od czoła jednostki napędowej. Oferuje również wyższą rozdzielczość napędu oraz kolumny i wyższe prędkości pozycjonowania.
Tak – zintegrowana głowica Surfscan rejestruje dane dla chropowatości i konturu jednocześnie.
Tak, zakres pionowy głowicy pozwala na analizę nieregularnych kształtów i pomiar geometrii.
Dodatkowe ramiona pomiarowe, dodatkowe osie zmotoryzowane (np. stoliki pozycjonujące część mierzoną), mocowania części, opcje oprogramowania.
Evovis– umożliwia analizę chropowatości i konturu, raportowanie, i eksport do systemów SPC.
Kiedy wybrać:
Gdy chcesz mierzyć jednocześnie chropowatość i kontur.
Kiedy wybrać:
Gdy kontrolujesz większe elementy wymagające dokładnej analizy chropowatości i konturu.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz dokładnej kontroli konturu elementów.
Kiedy wybrać:
Gdy zależy Ci na wszechstronnym systemie chropowatości w trybie automatycznym.
Kiedy wybrać:
Gdy wymagasz najwyższej precyzji w nanoskali.
Topografia powierzchni pozwala lepiej zrozumieć procesy zachodzące w wielu aplikacjach. Dotyczy to nie tylko budowy maszyn. Również w zastosowaniach biomedycznych można wygodnie monitorować zachodzące zmiany i na przykład projektować elementy protez. Krąg dziedzin stosowania analizy stereometrycznej ciągle się poszerza, a wiedza specjalistów w zakresie pomiarów powierzchni jest cenna w wielu pracach o charakterze interdyscyplinarnym.
Podstawową informacją o wyrobie są wymiary, takie jak: długość, średnica czy kąt. Jednak dzisiejsze wymagania rynku powodują konieczność podania tolerancji wykonania tych wymiarów oraz wzbogacenie ich o dane dotyczące chropowatości powierzchni oraz dopuszczalnych wartości odchyłek kształtu i położenia.
Profilometry przenośne stanowią grupę przyrządów do pomiaru nierówności powierzchni najprostszych w użyciu. Jednocześnie można je spotkać zarówno w małych zakładach przemysłowych, jak i w dużych fabrykach. Dzięki miniaturyzacji elementów mikroprocesorowych możliwości obliczeniowe takich przyrządów stale rosną i w niektórych aplikacjach są najzupełniej wystarczające.
Artykuł poruszający tematykę wykorzystania mikroskopii różnicowania ogniskowego do pomiaru nierówności i kształtu powierzchni.
Podstawowe bezstykowe (optyczne) metody stosowane w pomiarach nierówności powierzchni to mikroskopia różnicowania ogniskowego, skaningowa mikroskopia koherencyjna i mikroskopia bądź profilometria konfokalna. Najszerzej stosowaną z nich w inżynierii mechanicznej jest mikroskopia różnicowania ogniskowego, która polega na wykorzystaniu ostrości obrazu powierzchni w mikroskopie optycznym do oceny wysokości nierówności powierzchni.
Zapytaj o produkt 
Zadzwoń 
Zapytaj o produkt
