Przenośne urządzenie do pomiaru chropowatości, falistości i parametrów profili – Waveline W40, który jest następcą modelu W20. Przeznaczony zarówno do zastosowania na produkcji, jak i w laboratorium jako małe stanowisko stacjonarne. Jednostka pomiarowa Waveline 40 odpowiedzialna jest za wykonywanie pomiaru, a oprogramowanie Evovis mobile za analizę oraz archiwizowanie danych. Przyrząd można wyposażyć w dodatkowe opcje, co znacząco rozszerza jego możliwości pomiaru. Urządzenie zapewnia możliwość użycia szerokiej gamy głowic pomiarowych lub ramion pomiarowych kompatybilnych ze standardową głowicą TKU300. Oprogramowanie Evovis Mobile Standard umożliwia pomiar parametrów według norm ISO21920, ISO 4287, ISO 13565 oraz JIS B601(Rz-JIS, Ry, tp).
CECHY PRODUKTU
- Zintegrowany przycisk start na obudowie jednostki pomiarowej
- Zmotoryzowane opuszczanie głowicy na mierzoną powierzchnię (auto-zero) oraz podnoszenie i powrót głowicy po pomiarze
- Obsługuje głowice bez ślizgacza i umożliwia stosowanie wymiennych ramion pomiarowych
- Możliwość pomiaru w pozycji pionowej i odwróconej
- Ocena wyników komputerze PC za pomocą Evovis Mobile Standard
- Wszystkie aktualne normy, w tym nowa seria norm ISO 21920
- Opcjonalnie: statyw HS300 lub MS300 tworzący kompaktowe stanowisko pomiarowe
ELEMENTY ZESTAWU STANDARDOWEGO
- Jednostka pomiarowa Waveline Xmove 20
- Oprogramowanie Waveline Evovis Mobile Standard
- Głowica TKU 300 z możliwością stosowania wymiennych ramion pomiarowych
- Końcówka pomiarowa TS1 KE2/90GD T1,9 D4/30 (256654) - o promieniu 2 µm i kącie 90°
- Zasilacz, przewód zasilający I komunikacyjny
- Zestaw narzędzi i walizka
- Certyfikat wzorcowania
- Instrukcja obsługi