Waveline W15

Nowość

Przenośny przyrząd do pomiaru chropowatości

Producent: Hommel-Etamic

Waveline W15 to kompaktowe i bezprzewodowe urządzenie do pomiaru chropowatości, zaprojektowane z myślą o maksymalnej mobilności i elastycznym zastosowaniu zarówno w środowiskach produkcyjnych, jak i kontrolnych. Dzięki swojej precyzji i ergonomii, doskonale sprawdza się jako uniwersalny przyrząd pomiarowy, zapewniając szybkie i dokładne wyniki. Idealne rozwiązanie do zastosowań przemysłowych, gdzie niezawodność i mobilność są kluczowe.

Masz pytania? Chcesz zamówić? Skontaktuj się z nami!

Dowiedz się więcej

+ 03

Opis produktu

Prezentacja u klienta

Usługa pomiarowa

Serwis gwarancyjny i pogwarancyjny

Profesjonalne doradztwo

Szkolenie produktowe

Szybkie ofertowanie

Oprogramowanie w języku polskim

Usługa wzorcowania

Waveline W15 to kompaktowe i bezprzewodowe urządzenie do pomiaru chropowatości, zaprojektowane z myślą o maksymalnej mobilności i elastycznym zastosowaniu zarówno w środowiskach produkcyjnych, jak i kontrolnych. Możliwość obracania sondy względem głowicy pomiarowej pod kątem 90° umożliwia pomiar w miejscach trudno dostępnych. Urządzenie zapewnia możliwość użycia szerokiej gamy głowic pomiarowych oraz dodatkowych akcesoriów. Oprogramowanie Evovis Mobile Standard umożliwia pomiar parametrów według norm ISO21920, ISO 4287, ISO 13565 oraz JIS B601(Rz-JIS, Ry, tp). Dodatkowo oferuje rozbudowaną analizę wyników oraz funkcje raportowania i eksportu danych.

CECHY PRODUKTU

Ergonomiczna jednostka pomiarowa LV17
Zintegrowany przycisk start na jednostce pomiarowej
Obsługuje głowice ze ślizgaczem
Pomiary w każdej pozycji, również pionowej i odwróconej
Różne prędkości pomiaru
Ocena wyników na komputerze PC za pomocą Evovis Mobile Standard
Wszystkie aktualne normy, w tym nowa seria norm ISO 21920
Eksport parametrów i profili, opcjonalne interfejsy statystyczne
Opcjonalnie: statyw HS300 lub MS300 tworzący kompaktowe stanowisko pomiarowe

ELEMENTY ZESTAWU STANDARDOWEGO

Mobilna jednostka pomiarowa LV17
Głowica T1E KE2/90D
Oprogramowanie Evovis Mobile Standard
Kabel zasilający
Kabel USB
Certyfikat kalibracji
Walizka
Instrukcja obsługi

Oprogramowanie

Oprogramowanie EVOVIS mobile

Oprogramowanie EVOVIS mobile firmy Jenoptik (Hommel-Etamic) przeznaczone jest do współpracy z przenośnymi przyrządami do pomiaru chropowatości powierzchni.

Szczegóły

Specyfikacja

Specyfikacja techniczna przenośnego przyrządu do pomiaru chropowatości Waveline W15

Model:

Głowica:

indukcyjna T1E
ze ślizgaczem, 2 µm/90°

Klasa dokładności:

1 zgodna z DIN 4772

Zakres pomiarowy:

głowica T1E 200 μm,
głowica T3E 600 μm

Rozdzielczość:

6 nm

Jednostki pomiarowe:

µm/µcale do wyboru

Maksymalna długość przesuwu:

17,5 mm

Możliwość pomiaru poprzecznego

Tak (Obrót głowicy o 90^o)

Odcinki elementarne:

0,08 I 0,25 I 0,8 I 2,5 mm

Liczba programów pomiarowych:

Dowolna (programy tworzone w
oprogramowaniu Evovis Mobile)

Pomiar parametrów według norm:

DIN EN ISO 21920; DIN EN ISO
4287:2010; DIN EN ISO 13565-2, - 3;
DIN EN ISO 12085; ISO 4287:1987, DIN
4762; DIN EN ISO 4288; JIS B-0601; DIN
EN 10049/ SEP 1941

Prędkość pomiarowa vt:

0,15 | 0,5 | 1 mm/s;
prędkość powrotna 3 mm/s

Liczba odcinków elementarnych:

Dowolna (ustawiana w
oprogramowaniu Evovis Mobile)

Odległość punktów pomiarowych:

od 0,5 µm

Połączenie:

USB, Bluetooth® wireless
technology

Zasilanie sieciowe oraz z baterii:

tak

Czas pracy na baterii

ok. 800 cykli pomiarowych

Wymiary (jednostka pomiarowa LV17):

151 x 50 x 55 mm

Masa (jednostka pomiarowa LV17):

ok. 275 g

Do pobrania

Broszura informacyjna przenośnego przyrządu do pomiaru chropowatości Waveline W15 Pobierz

Zapytaj o produkt

Zadzwoń do nas

+48 61 222 58 11

Skontaktuj się z nami, nasi eksperci pomogą dobrać produkt
pod Twoje indywidualne potrzeby i przygotują ofertę.

Zobacz również

Usługi

Stykowe i optyczne pomiary nierówności i topografii powierzchni

Bardzo szeroki zakres pomiarów parametrów mikronierówności (chropowatości) na urządzeniach laboratoryjnych bądź przenośnych oraz wyznaczanie topografii powierzchni.

Zobacz