28-02 lutego, MTP, Poznań Congress Center,
Sprawdź szczegóły
Oferta
Systemy pomiarowe
Mierniki grubości powłok
TERASCOPE® – automatyczny system pomiaru grubości powłok i analizy materiałowej w technologii terahercowej
Oferta
Systemy pomiarowe
Mierniki grubości powłok
TERASCOPE® – automatyczny system pomiaru grubości powłok i analizy materiałowej w technologii terahercowej
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz zautomatyzowanych pomiarów wielowarstwowych grubości powłok.
Zapytaj o ofertę
TERASCOPE® to przemysłowy system pomiarowy wykorzystujący fale terahercowe do bezkontaktowego i nieniszczącego pomiaru grubości organicznych powłok wielowarstwowych oraz analizy właściwości materiałów. Dzięki wysokiej przepustowości do 6 THz i unikalnej technologii Clean-Trace zapewnia stabilne, powtarzalne wyniki nawet w wymagających warunkach produkcyjnych. System integruje się z liniami automatyki i pracuje w trybie inline lub offline.
Dzięki szybkim pomiarom i dużej precyzji TERASCOPE® pozwala ograniczyć błędy jakościowe, zmniejszyć zużycie materiałów i skrócić czas kontroli. Zyskujesz pełną kontrolę nad procesem i wiarygodne dane niezbędne do optymalizacji produkcji.
Impulsy fal terahercowych przenikają przez powłoki, odbijając się na ich granicach. Na tej podstawie TERASCOPE® tworzy widmo, z którego określa grubość każdej warstwy. Metoda jest całkowicie bezkontaktowa i nie wymaga przygotowania powierzchni. Dokładny pomiar nawet złożonych, wielowarstwowych systemów bez ingerencji w materiał.
Patented Clean-Trace utrzymuje stałe warunki pomiaru poprzez ciągłe przepłukiwanie głowicy suchym, oczyszczonym powietrzem. Minimalizuje to wpływ wilgoci i cząstek, które mogłyby zaburzać odbiór fal terahercowych. Pewne, powtarzalne wyniki w środowisku produkcyjnym.
FISIQ® Z przetwarza sygnał terahercowy w czasie rzeczywistym, wizualizując grubości warstw i kluczowe parametry materiałowe. Zapewnia i integrację z PLC przez TCP/IP lub PROFINET. Łatwe monitorowanie procesu i szybkie wykrywanie odchyleń jakościowych.
Zintegrowany skaner 3D umożliwia precyzyjne pozycjonowanie głowicy względem krzywizn i złożonych kształtów. System na bieżąco analizuje geometrię elementu i koryguje ustawienie podczas pomiaru. Korzyść: Wiarygodne wyniki również na elementach zakrzywionych i nieregularnych.
Jeden system obsługuje zarówno proste, jak i bardzo złożone systemy powłokowe.
Dokładne wyniki nawet w dynamicznych liniach produkcyjnych.
Szybka adaptacja systemu do istniejącej infrastruktury bez kosztownej przebudowy.
Broszura produktowa
System mierzy wszystkie organiczne i dielektryczne warstwy, takie jak lakiery, farby, kompozyty, tworzywa, ceramika czy powłoki specjalne. Może pracować na dowolnym podłożu, w tym metalowym, szklanym i kompozytowym.
Tak. Fale THz mają niską energię fotonów i nie są promieniowaniem jonizującym. System nie wymaga żadnych środków ochrony radiologicznej ani specjalnych stref bezpieczeństwa.
System można podłączyć do PLC przez TCP/IP lub PROFINET, a głowicę zamontować na robotach, suwnicach, komorach próżniowych lub systemach przesuwu. Fischer zapewnia wsparcie koncepcyjne i wdrożeniowe.
Tak, system korzysta ze stacji referencyjnej do automatycznej referencji intensywności i częstotliwości. Proces odbywa się w tle i nie wymaga zatrzymywania produkcji.
Tak. Opcjonalny skaner 3D dopasowuje położenie głowicy do geometrii elementu i zapewnia powtarzalne wyniki nawet na skomplikowanych kształtach.
Zapytaj o produkt 
Zadzwoń 
