Jubinale Poznań 2026

28-02 lutego, MTP, Poznań Congress Center,

Sprawdź szczegóły
Inspekcja obrabiarek Kamery do obrabiarek Mocowania przedmiotów obrabianych Narzędzia frezarskie Oprawki i systemy mocowania narzędzi frezarskich
Oprawki i systemy mocowania narzędzi tokarskich Ustawiacze narzędziowe Wiertła i narzędzia do obróbki gwintu Wyposażenie warsztatowe
Badania i pomiary tomografem rentgenowskim Badanie składu pierwiastkowego (spektrometria) Badania wytrzymałości i pomiaru siły Badanie zawartości ferrytu w stalach Optyczne pomiary wielkości geometrycznych Pomiary grubości powłok Pomiary momentu obrotowego Pomiary twardości materiałów Skanowanie 3D
Stykowy i optyczny pomiar zarysu kształtu (kontur) Stykowy i optyczny pomiar nierówności topografii powierzchni
Szukaj
Popularne
skaner 3d
mikroskop
spektrometr
Moje ostatnie wyszukiwania

Zadzwoń do nas

+48 61 222 **** Pokaż
tel
koszyk
koszyk
Szukaj
Popularne
skaner 3d
mikroskop
spektrometr
Moje ostatnie wyszukiwania
tel
koszyk
koszyk
  1. Start
  2. > Oferta
  3. > Systemy pomiarowe
  4. > Mierniki grubości powłok
  5. > Zaawansowany miernik grubości powłok - PHASCOPE®PMP10 Helmut Fischer
  1. Start
  2. > Oferta
  3. > Systemy pomiarowe
  4. > Mierniki grubości powłok
  5. > Zaawansowany miernik grubości powłok - PHASCOPE®PMP10 Helmut Fischer
  • Zaawansowany miernik grubości powłok PHASCOPE® PMP10 firmy FISCHER
  • Zaawansowany miernik grubości powłok PHASCOPE® PMP10 firmy FISCHER
  • PHASCOPE® PMP10 – zestaw pomiarowy z drukarką, sondą i płytkami wzorcowymi
  • PHASCOPE® PMP10 – miernik do pomiaru grubości powłok na różnych elementach

Zaawansowany miernik grubości powłok-PHASCOPE®PMP10 Helmut Fischer

  • Precyzyjne pomiary grubości powłok metodą prądów wirowych zgodnie z normą ISO 21968.
  • Możliwość pomiarów na małych detalach i powierzchniach chropowatych, dzięki specjalnie zaprojektowanym sondom.
  • Powłoki z cynku, miedzi, aluminium, niklu galwanicznego na stali i żeliwie.

Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz precyzyjnych pomiarów trudnych aplikacji w których inne metody zawodzą.

Zapytaj o ofertę
Dział sprzedaży
Jesteś zainteresowany produktem?
Zadzwoń +48 61 222 58 11
Zapytaj o ofertę
Opis
PHASCOPE® PMP10 – miernik grubości powłok dla elektroniki i galwanotechniki

PHASCOPE® PMP10 to ręczny miernik do precyzyjnego pomiaru metalicznych powłok na różnych podłożach, w tym na płytkach PCB. Wykorzystuje fazową metodę prądów wirowych (ISO 21968), dzięki czemu zapewnia dokładny pomiar nawet na małych i skomplikowanych częściach.

Dla użytkownika oznacza to powtarzalne wyniki i pewność jakości produkcji – również tam, gdzie inne metody zawodzą.

Technologia
  • Fazowa metoda prądów wirowych (ISO 21968)

    Technika umożliwia pomiar metalicznych powłok na przewodzących i nieprzewodzących podłożach bez kontaktu z materiałem. Jest mało wrażliwa na wpływ geometrii elementu i nierówności powierzchni, co ułatwia pracę przy skomplikowanych kształtach oraz drobnych częściach. Uzyskujesz stabilne wyniki pomiarowe niezależnie od kształtu, wielkości czy chropowatości detalu.

  • Wymienne sondy specjalistyczne

    Szeroka gama sond – m.in. do otworów przelotowych PCB, małych elementów czy powierzchni chropowatych – pozwala dopasować urządzenie do konkretnych zadań pomiarowych. Każda sonda została zaprojektowana tak, aby minimalizować wpływ geometrii i nie wymagać częstych rekalkibracji. Jedno urządzenie obsługuje wiele zastosowań z najwyższą precyzją.

  • Oprogramowanie FISCHER DataCenter

    Narzędzie do przesyłania, analizy i raportowania danych pomiarowych. Pozwala tworzyć wykresy SPC, analizy statystyczne oraz generować gotowe raporty kontrolne. Łatwo dokumentujesz wyniki i skracasz proces kontroli jakości.

Sonda PHASCOPE® PMP10 podczas pomiaru grubości cynku na śrubach
Precyzyjny pomiar nawet na małych i złożonych elementach
Urządzenie minimalizuje wpływ geometrii, dzięki czemu dokładnie mierzy cynk na śrubach czy nakrętkach. Chropowata powierzchnia również nie jest dla niego przeszkodą.

Masz pewność poprawnych pomiarów w realnych warunkach produkcyjnych.

Zestaw sond do miernika PHASCOPE® PMP10 do pomiaru grubości powłok
Sondy do pomiarów w otworach przelotowych PCB
Specjalna sonda ESL080B umożliwia dokładny pomiar grubości miedzi w otworach o różnych średnicach – również w płytkach wielowarstwowych.

Kontrolujesz jakość metalizacji otworów bez skomplikowanych procedur.

PHASCOPE® PMP10 – pomiar grubości miedzi w otworach przelotowych PCB
Mobilna konstrukcja do pracy w terenie i na linii produkcyjnej
PHASCOPE® PMP10 jest lekki, poręczny i zasilany akumulatorem, co pozwala wykonywać pomiary bezpośrednio przy stanowisku lub w miejscu montażu.

Oszczędzasz czas, eliminując konieczność przenoszenia próbek do laboratorium.

Masz pytania? Potrzebujesz pomocy?
Zadzwoń +48 61 222 58 11
Specyfikacja
Rodzaje sond pomiarowych: ESD20Ni, ESD20Zn, ESD2.4
Sonda:
ESD20Ni
ESD20Zn
ESD2.4
Aplikacja:
grubość powłoki niklu galwanicznego na stali, nawet przez powłokę lakierniczą
grubość powłoki cynku galwanicznego na stali, nawet przez powłokę lakierniczą
pomiar grubości cynku na małych powierzchniach
Częstotliwość:

60 kHz I 240 kHz

240 kHz

1,25 MHz

Zakres pomiarowy:

2-100 μm I 1-50 μm

2-200 μm

1-150 μm

Pomiar przez powłokę nieprzewodzącą:

do 200 μm

do 400 μm

do 250 μm

Rodzaje sond pomiarowych: ESD20Cu, ESL080B, ESL080V
Sonda:
ESD20Cu
ESL080B
ESL080V
Aplikacja:
grubość powłoki miedzianej na powierzchni płytek PCB, nawet pod powłoką lakierniczą
grubość powłoki miedzianej w otworach płytek obwodów drukowanych. Odpowiednie dla otworów o średnicy od 0,8 do 2 mm i grubości płytki od 0,5 do 8 mm. Dla sondy ESL080V dostępne pierścienie regulujące głębokość pomiaru
grubość powłoki miedzianej w otworach płytek obwodów drukowanych. Odpowiednie dla otworów o średnicy od 0,8 do 2 mm i grubości płytki od 0,5 do 8 mm. Dla sondy ESL080V dostępne pierścienie regulujące głębokość pomiaru
Częstotliwość:

60 kHz I 240 kHz

240 kHz

240 kHz

Zakres pomiarowy:

do 270 μm I do 100 μm

2-100 μm

2-100 μm

Pomiar przez powłokę nieprzewodzącą:

do 300 μm

do 200 μm

do 400 μm

Oprogramowanie
  • Oprogramowanie do raportowania pomiarów Fischer DataCenter
    Oprogramowanie do raportowania pomiarów Fischer DataCenter
    • Oprogramowanie PC do zarządzania danymi z mierników FISCHER, raportowania i archiwizacji pomiarów
    • Zaawansowana statystyka procesu oraz wykresy (granice tolerancji, histogram, siatka prawdopodobieństwa, FDD)
    • Tworzenie planów inspekcyjnych i eksport wyników do Excela przy polskojęzycznym interfejsie

    Kiedy wybrać:
    Gdy chcesz standaryzować raportowanie i analizę statystyczną wyników z mierników FISCHER w całej organizacji.

    Szczegóły
Wzorcowanie? My się tym zajmiemy

Aby urządzenie zachowało deklarowaną dokładność, potrzebuje okresowego wzorcowania. Możesz je wykonać w Laboratorium ITA, akredytowanym wg ISO 17025, które wzorcuje mierniki grubości powłok serii PMP. Dzięki temu masz pewność wiarygodnych wyników i zgodności z wymaganiami jakości.

Zobacz więcej
Zapytaj o produkt
Zadzwoń do nas
+48 61 222 58 11
Skontaktuj się z nami, nasi eksperci pomogą dobrać produkt
pod Twoje indywidualne potrzeby i przygotują ofertę.
Pliki do pobrania

Broszura informacyjna PHASCOPE PMP10

pdf • 0.71 MB
Pobierz

Pomiar grubości miedzi w otworach płytek PCB

pdf • 0.57 MB
Pobierz

Cynkowane elementy złączne

pdf • 0.52 MB
Pobierz

Pomiar grubośći powłoki z natryskiwanego termicznie aluminium TSA

pdf • 0.64 MB
Pobierz
Najczęściej zadawane pytania
FAQ

Do jakich materiałów nadaje się PHASCOPE® PMP10?

Urządzenie mierzy metaliczne powłoki cynkowe, niklowe i TSA na podłożu stalowym oraz grubość warstwy miedzi na płytkach PCB oraz w otworach przelotowych. Sprawdza się również na powierzchniach chropowatych oraz elementach o skomplikowanej geometrii.

Czy mogę używać urządzenia do pomiaru w otworach PCB?

Tak. Dedykowana sonda ESL080B została zaprojektowana specjalnie do pomiaru grubości miedzi w otworach przelotowych o średnicy od 0.8mm.

Czy wpływ kształtu elementu zniekształca wynik pomiaru?

Nie. Fazowa metoda prądów wirowych w dużym stopniu eliminuje wpływ geometrii części, dlatego pomiary pozostają stabilne nawet na bardzo małych lub nieregularnych elementach.

Jak przenosić wyniki pomiarów do komputera?

Wyniki można przesłać do oprogramowania FISCHER DataCenter, które umożliwia analizę danych, tworzenie wykresów oraz generowanie raportów kontrolnych.

Czy urządzenie nadaje się do pracy w środowisku produkcyjnym?

Tak. Ręczna konstrukcja, zasilanie akumulatorowe i odporność pomiaru na warunki powierzchni sprawiają, że PHASCOPE® PMP10 świetnie sprawdza się bezpośrednio na linii produkcyjnej.

Powiązane akcesoria i produkty
Powiązane wpisy
  • phascope
    Technologia
    5 minut
    Jednoczesny pomiar grubości farby i cynku

    Dzięki wykorzystaniu nowoczesnych urządzeń  pomiarowych, łączących metodę fazo-czułą prądów wirowych oraz metodę indukcji magnetycznej pomiary powłok nie stanowią już problemu, a precyzyjne określenie z osobna grubości cynku oraz grubości lakieru wymaga zaledwie jednego przyłożenia sondy.

    Czytaj
logo-ITA
ul. Poznańska 104, Skórzewo,
60-185 Poznań
+48 61 222 **** Pokaż
Oferta
ITA
Przydatne linki
2026 © Copyright ITA. Wszelkie prawa zastrzeżone
Back to top