Waygate Technologies

• Źródło promieniowania o napięciu 160 kV wykorzystujące anodę w postaci płynnego metalu, co znacząco poprawia skupienie wiązki oraz jakość projekcji rentgenowskich.
• Unikalne rozwiązanie łączące ekstremalnie wysoką rozdzielczość i duży zakres skanowania.
• Wykrywalność szczegółów o wielkości poniżej 50 nm.

Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz submikronowej tomografii CT o bardzo wysokiej rozdzielczości do zaawansowanych zastosowań.

• Rozdzielczość w skali mikro i nano – doskonała do najbardziej wymagających aplikacji.
• Gwarancja najwyższej jakości obrazów oraz danych dla małych i dużych elementów.
• Najlepsza dostępna na rynku specyfikacja metrologiczna zgodnie z VDI/VDE 2630.

Kiedy wybrać:
Gdy szukasz systemu najwyższej klasy oferującego niespotykaną jakość danych dla wymagających aplikacji.  

• Duża uniwersalność dzięki konstrukcji dwulampowej.
• Stabilizowany temperaturowo panelowy detektor zapewnia wysoki kontrast i doskonałą jakość obrazów.
• Zoptymalizowane i przyjazna oprogramowanie datos|x ułatwia kontrolowanie wszystkich komponentów i procesów.

Kiedy wybrać:
Gdy szukasz uniwersalnego systemu do skanowania lekkich metali oraz tworzyw sztucznych.

• Ekstremalnie wysoka jakość obrazu dzięki cyfrowemu detektorowi o bardzo wysokiej rozdzielczości i stabilizacji temperaturowej.
• Otwarta lampa rentgenowska nanofocus umożliwiająca wykrywanie szczegółów poniżej 200 nm.
• Opcjonalna wersja HR oferująca wykrywalność szczegółów od 50nm wykorzystując źródło od Excillum.

Kiedy wybrać:
Gdy szukasz systemu do skanowania małych próbek z najwyższą możliwą rozdzielczością.

• Lampa 450kV minifocus zapewniająca możliwość prześwietlania dużych detali lub wykonanych z materiałów o dużej pochłanialności.
• Kompaktowa konstrukcja zaprojektowana do użytku na hali produkcyjnej.
• Precyzyjny manipulator oparty na bazie granitowej umożliwiający skanowanie dużych próbek o masie do 100 kg.

Kiedy wybrać:
Gdy szukasz systemu do skanowania dużych elementów lub wykonanych z gęstych materiałów.

• Lampa Microfocus 160/180 kV do kompleksowej kontroli PCB i komponentów SMD.
• Oprogramowanie X|act do programowania inspekcji i oceny wyników
• Opcjonalna technologia PlanarCT oraz tomografia konwencjonalna do oceny całej objętości próbki

• Lampa Nanofocus 180 kV z wykrywalnością szczegółów od 0,2 µm do bardzo wymagających aplikacji takich jak półprzewodniki.
• Detektory o wysokiej rozdzielczości oraz dynamice zapewniają szybką akwizycję danych i wysoką jakość obrazu.
• Opcja CT z oprogramowaniem datos|x umożliwia rekonstrukcję 3D całego elementu.

• Oprogramowanie CT do w pełni zautomatyzowanej akwizycji, rekonstrukcji i przetwarzania objętościowego z trybem one-button|CT
• Monitorowanie parametrów systemu zgodnie z ASTM E1695 i obsługa konfiguracji metrology|edition dla pomiarów wg VDI 2630
• Przyspieszona rekonstrukcja i rozbudowana automatyzacja, zwiększająca przepustowość systemu CT w zastosowaniach produkcyjnych

Kiedy wybrać:
Gdy chcesz wykorzystać przemysłowy CT do seryjnej, zautomatyzowanej kontroli produkcji lub precyzyjnych pomiarów 3D.

• Oprogramowanie do inspekcji rentgenowskiej 2D z możliwością pełnej automatyzacji cykli testowych i obsługą danych CAD
• Wyspecjalizowane moduły do analizy połączeń lutowanych (BGA, C4, QFP, QFN, PTH) oraz wielowarstwowych PCB
• Przenośne programy inspekcyjne dla wszystkich systemów Phoenix kompatybilnych z X|act i narzędzie do analizy offline wyników

Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz inspekcji rentgenowskiej 2D połączeń lutowanych i PCB z możliwością pełnej automatyzacji.