HELMUT FISCHER GMBH
Oferowane produkty
-
BestsellerMierniki grubości powłok z wymiennymi sondami -DMP® 30-40 Helmut Fischer
- Precyzyjne pomiary grubości powłok metodami elektromagnetycznymi.
- Solidna aluminiowa obudowa z ochroną przed upadkami i wyświetlaczem chronionym przez Gorilla Glass.
- Mierniki posiadają komunikację USB, Bluetooth, pamięć 2500 kalibracji oraz sygnalizację wibracyjną i świetlną.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz precyzyjnych pomiarów grubości powłok na różnych kształtach i materiałach. -
BestsellerMiernik do pomiaru grubości cynku i lakieru- PHASCOPE®PMP10 DUPLEX Helmut Fischer
- Jeden pomiar, dwa wyniki: grubość lakieru i cynku liczona równocześnie i pokazywana osobno na ekranie.
- Trzy metody w jednym przyrządzie ISO 2178, ISO 2360, ISO 21968.
- Automatyczne rozpoznawanie podłoża.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz w jednym pomiarze mieć grubość cynku oraz farby. -
Kompaktowe mierniki grubości powłok- MP0/MP0R Helmut Fischer
- Ekonomiczny miernik do profesjonalnych pomiarów grubości powłok.
- Zintegrowana sonda pozwalają na łatwą obsługę jedną ręką w warunkach przemysłowych.
- Sprawdzona, wytrzymała konstrukcja do wieloletniej pracy w terenie i warunkach produkcyjnych.
Dodano do koszyka
-
Mierniki grubości powłok z wymiennymi sondami - DMP® 10-20 Helmut Fischer
- Automatyczne rozpoznawanie wymiennych sond i materiału podłoża.
- Solidna aluminiowa obudowa z ochroną przed upadkami oraz wyświetlacz chroniony przez Gorilla Glass.
- Interfejs USB do przesyłania danych do komputera oraz współpraca z oprogramowaniem FISCHER TactileSuite.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz precyzyjnych pomiarów grubości powłok na powtarzalnych seriach wyrobów. -
Mierniki grubości powłok z wymiennymi sondami- DUALSCOPE® FMP 100-150 Helmut Fischer
- Precyzyjne pomiary grubości powłok metodami elektromagnetycznymi.
- Automatyczne rozpoznawanie wymiennych sond i wykrywanie materiału podłoża.
- Intuicyjny dotykowy wyświetlacz i menu znane z systemu Windows.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz precyzyjnych pomiarów grubości powłok na różnych kształtach i materiałach. -
Modułowa stacja pomiarowa- FISCHERSCOPE® MMS® PC2 Helmut Fischer
- Kompaktowy i elastyczny system pomiarowy z możliwością archiwizacji i analizy danych.
- Intuicyjna obsługa z dużym dotykowym wyświetlaczem LCD i systemem Windows CE.
- Możliwość pomiarów wielokanałowych i zastosowanie różnych metod pomiarowych.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz jednoczesnego pomiaru z wielu sond. -
Zaawansowany miernik grubości powłok-PHASCOPE®PMP10 Helmut Fischer
- Precyzyjne pomiary grubości powłok metodą prądów wirowych zgodnie z normą ISO 21968.
- Możliwość pomiarów na małych detalach i powierzchniach chropowatych, dzięki specjalnie zaprojektowanym sondom.
- Powłoki z cynku, miedzi, aluminium, niklu galwanicznego na stali i żeliwie.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz precyzyjnych pomiarów trudnych aplikacji w których inne metody zawodzą. -
Miernik grubości powłok- COULOSCOPE CMS2 Helmut Fischer
- Metoda kulometryczna zgodna z normą DIN EN ISO 2177.
- Możliwość pomiaru powłok metalicznych na różnych podłożach, w tym powłok wielowarstwowych.
- Duży wyświetlacz graficzny LCD ułatwiający obsługę i odczyt wyników.
Kiedy wybrać:
Gdy dopuszczasz możliwość uszkodzenia próbki podczas grubości powłoki. -
FISCHERSCOPE® MMS® Automation –System do zautomatyzowanego pomiaru grubości powłok
- Możliwość jednoczesnego pomiaru przez cztery sondy.
- Zdalne sterowanie jednostką pomiarową i komunikacja przez RS-232, PROFIBUS lub PROFINET.
- Obsługa różnych metod pomiaru grubości powłok.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz zautomatyzować pomiar grubości powłok. -
TERASCOPE®– automatyczny system pomiaru grubości powłok i analizy materiałowej
- Technologia terahertz umożliwiająca jednoczesny pomiar do 7 warstw.
- Precyzyjny pomiar bezstykowy z błędem < 1μm.
- Wbudowany skaner 3D zapewniający dokładne pozycjonowanie i szybki pomiar w kilka sekund.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz zautomatyzowanych pomiarów wielowarstwowych grubości powłok. -
BestsellerMiernik do pomiaru zawartości ferrytu FERITSCOPE® DMP®30 Helmut Fischer
- Pomiary zawartości ferrytu zgodnie z normą ISO 17655 oraz “Basler Standard”.
- Zakresy pomiarowe od 0,1 do 80% Fe lub 0,1 do 120 FN.
- Nowoczesne oprogramowanie FISIQ® T oraz interfejs USB i Bluetooth do przesyłania danych.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz szybkiej i pewnej analizy zawartości ferrytu w spoinach. -
Miernik do pomiaru konduktywności elektrycznej SIGMASCOPE® SMP350 Helmut Fischer
- Szybkie i proste pomiary przewodności stopów metali niemagnetycznych zgodnie z normami DIN EN 2004-1 i ASTM E 1004.
- Automatyczna temperaturowa kompensacja przewodności dzięki zintegrowanemu czujnikowi temperatury.
- Pomiar przez powłokę nieprzewodzącą do 0,5 mm grubości.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz badać konduktywność aluminium, stopów miedzi i innych metali kolorowych. -
NowośćFISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD — uniwersalny spektrometr XRF z detektorem SDD
- Uniwersalna analiza XRF szerokiego zakresu materiałów i powłok.
- Detektor SDD – wysoka precyzja i szybkie czasy pomiaru.
- Stabilna konstrukcja do pracy laboratoryjnej i kontroli jakości.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebna jest szybka i precyzyjna analiza XRF szerokiego zakresu materiałów i powłok w warunkach laboratoryjnych oraz kontroli jakości. -
NowośćSpektrometr XRF do badania cienkich i złożonych powłok FISCHERSCOPE® XDAL® 620/650 Helmut Fischer
- Precyzyjna analiza cienkich i bardzo cienkich powłok (nawet < 0,1 µm).
- Dwie wersje detektorów SDD — stabilne wyniki i krótki czas pomiaru.
- Programowalny stolik XY — wygodne i powtarzalne serie pomiarów.
Kiedy wybrać:
Idealnie nadaje się do zastosowań w zakresie cienkich i bardzo cienkich powłok < 0,05 µm oraz do analizy materiałowej w zakresie ppm. -
NowośćSpektrometr XRF XAN Liquid Analyzer Helmut Fischer
- Ciągły pomiar składu kąpieli galwanicznych.
- Możliwość jednoczesnej analizy składu w czterech różnych wannach.
- Inteligentny system auto-diagnostyki - długi czas pracy bez przestojów.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz regularnej kontroli kąpieli galwanicznej bez angażowania załogi. -
NowośćSpektrometr XRF do najcieńszych powłok FISCHERSCOPE® X-RAY XDV® 850 Helmut Fischer
- Bardzo wysoka dokładność przy pomiarze ultracienkich powłok i metali szlachetnych.
- Detektor SDD 50 mm² — szybka analiza nawet wymagających zastosowań.
- Duży kolimator — duża powtarzalność i szybka praca seryjna.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz dokładnego pomiaru cienkich powłok. -
BestsellerSpektrometry XRF do złota i metali szlachetnych GOLDSCOPE Helmut Fischer
- Nieniszcząca analiza złota i metali szlachetnych.
- Precyzyjny pomiar powłok złota i rodu.
- Szybkie wyniki (20–100 s) i intuicyjna obsługa.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz szybkiej i pewnej analizy stopów złota w jubilerstwie lub obrocie metalami szlachetnymi. -
BestsellerSpektrometr XRF do pomiarów seryjnych FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 237 Helmut Fischer
- Dokładne pomiary powłok na bardzo małych próbkach (od 0,2 mm).
- Pomiary powłok galwanicznych w tym wielowarstwowych.
- Programowalny stolik XY – wygoda i powtarzalność pomiarów.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz wygodnie mierzyć cienkie powłoki na drobnych elementach w dużych ilościach. -
Spektrometr XRF FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230 Helmut Fischer
- Nieniszczące pomiary powłok jedno i wielowarstwowych.
- Szybkie pomiary również na dużych próbkach (5–30 s).
- Ręczny stolik XY – precyzyjny wybór miejsca pomiaru.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz wykonywać precyzyjne pomiary powłok galwanicznych na małych i dużych próbkach. -
Spektrometr XRF FISCHERSCOPE X-RAY XAN 220 Helmut Fischer
- Pomiary grubości powłok galwanicznych już od kilku nanometrów.
- Stały kolimator i nieruchomy stolik pomiarowy.
- Badanie składu metali szlachetnych i kąpieli galwanicznych.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz niezawodnego systemu do kontroli bardzo cieńkich powłok, kąpieli galwanicznych i złota. -
Spektrometr XRF FISCHERSCOPE X-RAY XAN 252 Helmut Fischer
- Pomiary grubości powłok galwanicznych już od kilku nanometrów.
- Cztery automatycznie przełączane rozmiary powierzchni pomiarowych.
- Badanie składu metali szlachetnych i kąpieli galwanicznych.
Kiedy wybrać:
Gry potrzebujesz uniwersalnego systemu do kontroli bardzo cieńkich powłok, kąpieli galwanicznych i złota. -
Przenośny spektrometr XRF XAN 500 Helmut Fischer
- Mobilny pomiar powłok i stopów w terenie.
- Badanie składu kąpieli galwanicznych.
- Możliwość precyzyjnej analizy grubości powłok na dużych elementach.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz mierzyć grubości powłok galwanicznych na bardzo dużych elementach. -
Spektrometr XRF FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ Helmut Fischer
- Bardzo szybkie pomiary grubości powłok na małych detalach w elektronice.
- Możliwość analizowania struktur o wielkości od 20 μm.
- Zautomatyzowane pomiary dzięki programowalnemu stolikowi XY, zwiększona precyzja i efektywność.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz efektywnie mierzyć grubość powłok na konektorach i płytkach PCB. -
Spektrometr XRF FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215 Helmut Fischer
- Przeznaczone do badania składu złota i metali szlachetnych.
- Badanie grubości powłok i kąpieli galwanicznych.
- Ekonomiczny wybór dla branży jubilerskiej.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz ekonomicznego systemu do kontroli bardzo cieńkich powłok, kąpieli galwanicznych i złota. -
Spektrometr XRF FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 600 Helmut Fischer
- Pomiary grubości powłok jedno i wielowarstwowych od kilku nm.
- Analiza kąpieli galwanicznych (od 0,2 g/l).
- Pomiar od góry - większa czułość dla pierwiastków lekkich.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz ekonomicznego rozwiązania z pomiarem od góry dla bardzo cieńkich powłok. -
Nanotwardościomierz- PICODENTOR HM500 Helmut Fischer
- Wysoka precyzja pomiaru na materiałach o grubości poniżej 1 μm, idealna do ultra-cienkich powłok i nanoskalowych materiałów.
- Programowalny stolik i zmotoryzowana oś Z umożliwiają badanie serii próbek oraz wykonanie wielu odcisków na jednej próbce z precyzją.
- Granitowa konstrukcja zapewnia ekstremalną stabilność, niską rozszerzalność cieplną oraz właściwości wibroizolacyjne.
-
Nanotwardościomierz FISCHERSCOPE HM2000 Helmut Fischer
- Automatyczne wykrywanie powierzchni próbki, co zwiększa precyzję i ułatwia pomiar.
- Zmotoryzowany ruch głowicy pomiarowej w osi Z oraz programowalny stolik umożliwiający badanie serii próbek.
- Konstrukcja granitowa zapewniająca sztywność i małą podatność termiczną, co przekłada się na stabilność pomiarów.
-
Folie wzorcowe do mierników grubości powłok
- Umożliwiają precyzyjną kalibrację mierników przed każdym pomiarem.
- Stosowane w różnych środowiskach: laboratoriach, produkcji i galwanizerniach.
- Szeroki wybór materiałów, grubości i rozmiarów do różnych metod pomiarowych.
Dodano do koszyka
-
Zestaw akcesoriów do analizy roztworów kąpieli galwanicznych
- Przeznaczony do analizy kąpieli galwanicznych metodą XRF.
- Zawiera dwa zbiorniczki z ekranem molibdenowym.
- W zestawie rolka folii okrywającej o długości 15 m.
Dodano do koszyka
-
Zbiorniczek pomiarowy do badania składu kąpieli galwanicznych
- Przeznaczony do analizy kąpieli galwanicznych metodą XRF.
- Wyposażony w zewnętrzny ekran molibdenowy.
- Umożliwia pomiar zarówno od góry, jak i od dołu.
Dodano do koszyka
-
Rolka folii do analizy składu kąpieli galwanicznych (15 m)
- Kompatybilna ze wszystkimi analizatorami rentgenowskimi firmy Fischer.
- Przeznaczona do zastosowań w analizie XRF.
- Długość rolki: 15 metrów.
Dodano do koszyka
-
Oprogramowanie WinFTM do spektrometrów XRF FISCHER
- Oprogramowanie do sterowania spektrometrami FISCHERSCOPE X-RAY i analizy wyników pomiarów XRF
- Automatyzacja pomiarów seryjnych, regulacja parametrów XRF, pomiar DCM i rozbudowana statystyka SPC z Cp/Cpk
- Konfigurowalne raporty, dokumentacja kalibracji i obsługa metod kalibracyjnych oraz parametrów fundamentalnych
Kiedy wybrać:
Gdy używasz spektrometrów XRF FISCHER i potrzebujesz jednego środowiska do pomiarów, analizy i raportowania. -
Oprogramowanie do raportowania pomiarów Fischer DataCenter
- Oprogramowanie PC do zarządzania danymi z mierników FISCHER, raportowania i archiwizacji pomiarów
- Zaawansowana statystyka procesu oraz wykresy (granice tolerancji, histogram, siatka prawdopodobieństwa, FDD)
- Tworzenie planów inspekcyjnych i eksport wyników do Excela przy polskojęzycznym interfejsie
Kiedy wybrać:
Gdy chcesz standaryzować raportowanie i analizę statystyczną wyników z mierników FISCHER w całej organizacji. -
Oprogramowanie FISIQ-T dla mierników DMP
- Oprogramowanie PC dedykowane do mierników FISCHER serii DMP, dostarczane bezpłatnie z urządzeniami
- Automatyczna synchronizacja, backup i praca offline na danych pomiarowych
- Tworzenie raportów i eksport wyników do CSV, TXT, Excela i PDF
Kiedy wybrać:
Gdy używasz mierników FISCHER DMP i potrzebujesz prostego narzędzia do archiwizacji, analizy i raportowania. -
Oprogramowanie XRF z technologią AI FISIQ® X
- Nowej generacji oprogramowanie XRF z technologią AI, dedykowane spektrometrom FISCHERSCOPE XDAL i XDV
- Interfejs oparty na workflow z prowadzeniem użytkownika przez kalibrację, pomiar, analizę i raportowanie
- Ulepszony silnik obliczeniowy, szybsze analizy oraz tryb widma z obsługą AI do wygodnej pracy na widmach i seriach próbek
Kiedy wybrać:
Gdy korzystasz z serii XDAL lub XDV i chcesz uprościć obsługę XRF, zwiększając szybkość i powtarzalność pomiarów.