28-02 lutego, MTP, Poznań Congress Center,
Sprawdź szczegóły
Oferta
Systemy pomiarowe
Oprogramowanie kontrolno-pomiarowe
Oprogramowanie TOLARIS Optic dla systemów Opticline
Oferta
Systemy pomiarowe
Oprogramowanie kontrolno-pomiarowe
Oprogramowanie TOLARIS Optic dla systemów Opticline
TOLARIS Optic to oprogramowanie dedykowane systemom Opticline do bezkontaktowego pomiaru wałków w trybie manualnym i automatycznym.
Operator korzysta z jednego, spójnego narzędzia do obsługi całego procesu – od pierwszej sztuki po seryjną kontrolę na linii produkcyjnej, z minimalnym wpływem czynnika ludzkiego.
To samo środowisko obsługuje szybkie pomiary produkcyjne, analizę odchyłek kształtu i raportowanie, a w razie potrzeby przekazuje korekty bezpośrednio do obrabiarek CNC.
TOLARIS Optic pozwala zbudować plan pomiarowy poprzez wybór cech z listy i przeciągnięcie ich na kontur detalu, z pomocą kreatorów prowadzących użytkownika krok po kroku.
Nowy detal można wdrożyć do pomiaru bez pisania skomplikowanych programów – wystarczy znać wymagane cechy z rysunku.
TOLARIS Optic pozwala zbudować plan pomiarowy poprzez wybór cech z listy i przeciągnięcie ich na kontur detalu, z pomocą kreatorów prowadzących użytkownika krok po kroku.
Nowy detal można wdrożyć do pomiaru bez pisania skomplikowanych programów – wystarczy znać wymagane cechy z rysunku.
Podczas pomiaru oprogramowanie pokazuje na jednym ekranie kontur wałka, położenie cech, wartości zmierzone oraz odchyłki od tolerancji.
Operator widzi natychmiast, które cechy są krytyczne i gdzie pojawiają się odchyłki – bez żonglowania ekranami czy raportami.
Podczas pomiaru oprogramowanie pokazuje na jednym ekranie kontur wałka, położenie cech, wartości zmierzone oraz odchyłki od tolerancji.
Operator widzi natychmiast, które cechy są krytyczne i gdzie pojawiają się odchyłki – bez żonglowania ekranami czy raportami.
Oprogramowanie obsługuje pełen zestaw cech typowych dla wałków: długości, średnice, promienie, gwinty, okrągłość, bicie, walcowość, współosiowość, współśrodkowość oraz – z sondą stykową – prostopadłość i płaskość.
Jednym systemem można pokryć większość wymagań rysunkowych dla części toczonych i szlifowanych, bez dodatkowych przyrządów czy gniazd pomiarowych.
Oprogramowanie obsługuje pełen zestaw cech typowych dla wałków: długości, średnice, promienie, gwinty, okrągłość, bicie, walcowość, współosiowość, współśrodkowość oraz – z sondą stykową – prostopadłość i płaskość.
Jednym systemem można pokryć większość wymagań rysunkowych dla części toczonych i szlifowanych, bez dodatkowych przyrządów czy gniazd pomiarowych.
TOLARIS Optic udostępnia elastyczne szablony raportów oraz eksport danych przez standardowe interfejsy do systemów jakości, SPC i MES.
Raport z pomiaru wałka można szybko dopasować do wymagań klienta, audytora czy wewnętrznego formatowania dokumentów.
TOLARIS Optic udostępnia elastyczne szablony raportów oraz eksport danych przez standardowe interfejsy do systemów jakości, SPC i MES.
Raport z pomiaru wałka można szybko dopasować do wymagań klienta, audytora czy wewnętrznego formatowania dokumentów.
Oprogramowanie może być opcjonalnie połączone z korekcją wartości w procesie obróbki, przekazując do maszyn CNC informacje o koniecznych zmianach nastaw.
Na podstawie wyników pomiaru system może automatycznie sugerować lub przekazywać korekcje, co ogranicza dryft wymiarów w czasie.
Oprogramowanie może być opcjonalnie połączone z korekcją wartości w procesie obróbki, przekazując do maszyn CNC informacje o koniecznych zmianach nastaw.
Na podstawie wyników pomiaru system może automatycznie sugerować lub przekazywać korekcje, co ogranicza dryft wymiarów w czasie.
Kiedy wybrać:
Gdy mierzysz wałki toczone i szlifowane o długości do 1200 mm i średnicy do 230 mm.
Kiedy wybrać:
Gdy kontrolujesz duże i ciężkie wałki wymagające precyzyjnej metrologii w środowisku produkcyjnym.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz ekonomicznego rozwiązania do pomiaru wałków toczonych o mniejszych wymiarach.
Zapytaj o produkt
