Oprogramowanie pomiarowe Alicona

Producent: Bruker Alicona

Opis produktu

Cechy produktu:

zaawansowane pomiary cech i powierzchni 3D
intuicyjne i powtarzalne pomiary kształtu i chropowatości
IF – Measure Suite jest połączony z programem MOTIF-Laboratory Measurement Module służącym do zbierania dużej liczby danych 3D i szacowania niepewności pomiaru, a także zarządzania pracą urządzenia np. ustawienia światła, kontrastu, gęstości punktów
możliwość przeglądania danych i akwizycji kolejnej powierzchni w tym samym czasie
wszystkie pakiety oprogramowania Alicona (w tym zarządzanie licencjami) mogą być uruchamiane bezpośrednio w IF-Measure Suite

Analiza według norm:	ISO 4287, ISO 4288, ISO 11562, ASME B46.1-2002,ISO 25178 Areal-Part2, ISO12781-1:2003, ISO 13565-2, ISO 8785, ISO 1101, ASME Y14.5 (Alicona Inspect, Alicona Inspect Professional)
Moduły pomiarowe:	Profile Roughness Measurement, Surface Texture Measurement, Profile Form Measurement, Volume Measurement, 2D Image Measurement Alicona Inspect, 3D Form Measurement (opcja), Contur Measurement (opcja) Difference Measurement (opcja), Polyworks (opcja), Alicona Inspect Professional (opcja)
Narzędzia:	Dataset Conversion, Form Removal, Real3DFusion, 3D – Edytor, Real3D – Edytor Dataset Reduction, Image Quality Measurement
Formaty eksportu:	Dane: Al3D, Zdjęcia/widoki3D: PNG, BMP, TIF, TIFF, ICO, JPG, JPEG, PPM, XPM, XBM, Zdjęcia składane: PNG, BMP, TIF, 3D-Data points: Plain text, VRML2.0, SUR, STL, OpenGPS X3P, G3D, Właściwości obiektu: TXT
Formaty importu:	Dane: STL, AL3D, AFM, D2, DAT, TXT, LEI, PLU PNG, SDF, SMD, SUR, DFR, TIF, TFR, TRR, ZFR, ZRR, PTB XYZ, UB3, X3P, G3D, Zdjęcia: PNG, BMP, TIF, TIFF, ICO, JPG, JPEG, PPM, XPM, XBM

Profile-Roughness Measurement (Pomiar chropowatości profilu)
Moduł pomiarowy umożliwiający pomiar parametrów chropowatości i falistości zgodnie z normami, w szczególności ISO 4287 i 4288. Dodatkową opcją jest automatycznie obliczana krzywa udziału materiałowego wraz z analizą statystyczną i reprezentacją graficzną.

Surface-Texture Measurement (Pomiar topografii powierzchni)
Moduł do pomiaru parametrów nierówności powierzchni zgodnie z normą ISO 25178, ISO 12781-1 oraz ASME B46. Obejmuje on parametry 3D, krzywą udziału materiałowego, analizę fraktalną, korelacyjną i widmową.

Profile-Form Measurement (Pomiar zarysu kształtu)
Moduł umożliwiający pomiary kształtu wzdłuż profilu określonego przez użytkownika zgodnie z ISO 5436. Oprócz promieni, kątów, różnicy wysokości, odległości, można mierzyć także cechy krawędzi.

Contour-Measurement (Pomiar cech geometrycznych 2D)
Moduł umożliwiający wyodrębnianie profilu z przekroju utworzonego z danych 3D za pomocą płaszczyzny lub powierzchni w dowolnym ustawieniu względem układu współrzędnych. Następnie na przygotowanym kształcie można wykonać pomiar cech geometrycznych takich jak: promień, średnica, kąt, odległość, a także wysokości.

3D Form-Measurement (Pomiar kształtów 3D)
Moduł służący do pomiaru regularnych kształtów geometrycznych takich jak: płaszczyzna, walec, stożek, kula, a także pozwalający na ocenę odchylenia od zaimportowanych danych 3D.

Difference Measurement (Analiza różnic)
Moduł używany do porównywania dwóch zestawów danych, co daje możliwość obliczenia odchylenia od wartości nominalnych zaczytanych w postaci 3D. Kilka trybów pozwala w różny sposób wizualizować różnice pomiędzy danymi zmierzonymi a zaczytanymi.

Volume Measurement (Pomiar objętości)
Moduł umożliwiający pomiar objętości. Za jego pomocą można obliczać albo objętość całego zaznaczonego elementu, albo wgłębień (pustych przestrzeni) lub wzniesień (materiału).