Jubinale Poznań 2026
28-02 lutego, MTP, Poznań Congress Center,
Sprawdź szczegóły
Popularne
Szukaj
Szukaj
- Start
-
Oferta
-
Systemy pomiarowe
-
Oprogramowanie kontrolno-pomiarowe
-
Oprogramowanie do inspekcji rentgenowskiej 2D Phoenix X|act
-
Oferta
-
Systemy pomiarowe
-
Oprogramowanie kontrolno-pomiarowe
-
Oprogramowanie do inspekcji rentgenowskiej 2D Phoenix X|act
Oprogramowanie do inspekcji rentgenowskiej 2D Phoenix X|act
Phoenix X|act to zaawansowane oprogramowanie do wizualizacji i obróbki obrazów rentgenowskich, zaprojektowane do programowania automatycznych cykli inspekcyjnych oraz kompleksowej oceny danych. Umożliwia zarówno ręczną, jak i w pełni zautomatyzowaną inspekcję 2D z wysoką i powtarzalną wykrywalnością defektów.
Dedykowane oprogramowanie Phoenix X|act
Jedno środowisko programowe pokrywa codzienną inspekcję ręczną i powtarzalną kontrolę produkcyjną, skracając czas konfiguracji i zapewniając powtarzalne wyniki między liniami i systemami.
Możliwości Phoenix X|act
Raz przygotowane cykle inspekcyjne można wielokrotnie wykorzystywać na różnych systemach, co obniża koszty wdrożenia i upraszcza utrzymanie procedur testowych.
Najważniejsze funkcje:
- Inspekcja rentgenowska 2D z możliwością pracy ręcznej i w pełni zautomatyzowanej w jednym środowisku.
- Wysoka i powtarzalna wykrywalność defektów dzięki zaawansowanemu przetwarzaniu obrazu.
- Szybka konfiguracja programów inspekcyjnych na bazie danych CAD i automatyzacja strategii testowych (μAXI).
- Możliwość tworzenia w pełni zautomatyzowanych procesów inspekcji z automatycznym przetwarzaniem obrazu i zapisem wyników.
- Przenoszenie przygotowanych programów inspekcyjnych między wszystkimi systemami Phoenix kompatybilnymi z X|act.
- Standardowe moduły oprogramowania: BGA|module, VC|module, C4|module, ML|module do specjalistycznych analiz połączeń lutowanych i PCB.
- Opcjonalne moduły strategii CAD (X|act BGA check, X|act PTH check) oraz pakiet XE² z modułami QFP, QFN, PTH do pełnej automatyzacji oceny połączeń lutowanych.
- Narzędzie X|act review do analizy wyników offline, niezależnie od systemu inspekcyjnego.
Powiązane akcesoria i produkty
-
NowośćRentgenowski system inspekcyjny do elektroniki Phoenix Nanome|x Neo- Lampa Nanofocus 180 kV z wykrywalnością szczegółów od 0,2 µm do bardzo wymagających aplikacji takich jak półprzewodniki.
- Detektory o wysokiej rozdzielczości oraz dynamice zapewniają szybką akwizycję danych i wysoką jakość obrazu.
- Opcja CT z oprogramowaniem datos|x umożliwia rekonstrukcję 3D całego elementu.
-
NowośćRentgenowski system inspekcyjny do elektroniki Phoenix Microme|x Neo- Lampa Microfocus 160/180 kV do kompleksowej kontroli PCB i komponentów SMD.
- Oprogramowanie X|act do programowania inspekcji i oceny wyników
- Opcjonalna technologia PlanarCT oraz tomografia konwencjonalna do oceny całej objętości próbki
Zapytaj o produkt
