MountainsMap

Używany przez tysiące inżynierów, naukowców i metrologów na całym świecie, oprogramowanie MountainsMap® jest standardem w analizie tekstury powierzchni 2D i 3D oraz metrologii do użytku z profilometrami i innymi przyrządami do pomiaru powierzchni.

Wizualizuj, koryguj i analizuj profile i powierzchnie - Filtruj chropowatość i falistość zgodnie z normą ISO 16610 - Oblicz parametry profilu ISO i powierzchni - Wyodrębnij informacje funkcjonalne i metrologiczne z danych za pomocą zaawansowanych narzędzi: analiza Fouriera, analiza cząstek, wysokość schodka, dopasowanie kształtu, filtry falistości, analiza fraktalna itp.

Moduły standardowe:

Chropowatość i parametry ISO

• parametry 3D zdefiniowane w normie ISO 25178, w tym wysokość (Sa, Sq, Ssk, Sku, Sz, itp.) oraz parametry funkcjonalne (Smr, Smc, Sxp)
• ISO 4287 (i nadchodząca ISO 21290) parametry podstawowe i chropowatości (Ra, Rq, Rsk, Rmr, Rdc, Rdq, RPc itp.).
• parametry 2D i 3D ASME B46.1 (USA), GB/T (Chiny), DIN (Niemcy), JIS (Japonia), NF (Francja), BSI (Wielka Brytania), UNE (Hiszpania) i UNI (Włochy) ) itp

• analiza funkcjonalna (krzywa nośności profilu Abbott-Firestone i histogram rozkładu głębokości, odejmowanie jednej powierzchni od drugiej, obliczanie stosunku objętości materiału do pustej przestrzeni i grubości do trzech pionowych warstw powierzchni)

Korekcja danych wejściowych

• normalizacja powierzchnii i usuwanie artefaktów przed analizą:
• poziomowanie
• odwracanie w osi poziomej lub pionowej
• obrót w krokach co jeden stopień
• ekstrakcja stref
• korekta lub usunięcie anomalnych linii skanowania
• próg do usuwania pików
• retusz pojedynczych artefaktów
• dekonwolucja minimalizująca wpływ końcówki na dane pomiarowe.
• uzupełnianie brakujących punktów danych
• wygładzanie powierzchni
• ponowne próbkowanie w celu zwiększenia rozdzielczości obrazu

Geometria powierzchni 

• szybka i dokładna analiza geometrii powierzchni za pomocą narzędzi do pomiaru:
• odległości
• kąty
• obszary szczytów i dolin
• objętość nierówności i dziur
• wysokości stopni na powierzchniach i profilach
• współpłaszczyznowość

Łączenie powierzchni

• automatycznie łączenie ze sobą wiele pomiarów, które nakładają się w płaszczyźnie poziomej, aby zwiększyć pole widzenia
• interaktywnie łączenie dwóch lub więcej pomiarów powierzchni na różnych wysokościach w jedną powierzchnię gotową do analizy, aby zwiększyć zakres pionowy

Analiza podpowierzchniowa

• wyodrębnianie strefy prostokątnej lub nieprostokątnej. Usuwanie fragmentów z powierzchni przez zastosowanie progu odcięcia dla założonego zakresu wysokości
• automatycznie podzielenie powierzchni na motywy (komórki tekstury), można użyć operatora - Podział i Poziom, aby wyodrębnić podpowierzchnię i ją wyrównać. Po wydobyciu podpowierzchni lub obszaru zainteresowania można je analizować w dokładnie taki sam sposób, jak pełną powierzchnię – parametry są obliczane tylko na podpowierzchni. Umożliwia to na przykład badanie chropowatości, płaskości i współpłaszczyznowości płaszczyzn na MEMS oraz na elementach mechanicznych i elektronicznych

Analiza powłoki (powierzchnia o dowolnym kształcie)

• wizualizacja i analiza powłoki:
• wizualizacja i analiza powierzchnie o dowolnym kształcie (powłoki), w tym pliki STL, OBJ, PLY i 3MF
• analizowanie danych generowanych przez profile z wieloma osiami skanowania. Przydatne w zastosowaniach, w których trzeba zobaczyć dane pod każdym kątem (produkcja przyrostowa, skany przy użyciu tomografii rentgenowskiej itp.)
• analiza metrologiczna na powłokach:
• krzywizny i odchylenia powierzchni jako kolorową mapę w 3D
• dopasowanie formy odniesienia (plan, walec, kula)
• filtrowanie podobne do Gaussa, aby obliczyć gładką powierzchnię odniesienia
• obliczanie parametrów chropowatości powierzchni o dowolnym kształcie: parametry wysokości, parametry hybrydowe/przestrzenne, parametry objętości

Analiza konturu

• wyodrębnianie pionowego (x,z) lub poziomego (x,y) kontur (profil) z powierzchni
• definiowanie formy nominalnej za pomocą prostych interaktywnych narzędzi do kojarzenia elementów geometrycznych z konturami
• Obliczanie wymiarów (w tym odległości, promienie, średnice i kąty) za pomocą automatycznego wymiarowania i narzędzi interaktywnych
• porównanie zmierzonych konturów z danymi CAD (DXF) lub zdefiniowaną przez użytkownika formą nominalną
• Określanie tolerancji, w tym duże tolerancje położenia, jeśli jest to wymagane
• wizualizacja odchylenia formy dzięki powiększonej grafice
• automatycznie generowanie tabeli wyników, w tym status zaliczony/niezaliczony
• analiza gotyckiego łuku łożysk

Analiza cząstek i nie tylko

• automatyczne wykrywanie i liczenie ziaren, cząstek, wysp, wypukłości, dziur i motywów (komórek tekstury) przy użyciu wielu metod wykrywania.
• Sortowanie cząstki w grupy według kilku kryteriów
• zajęcia graficznie w czasie rzeczywistym, twórz wykresy kontrolne, histogramy, wykresy punktowe itp.
• analiza Fouriera i falkowa
• analiza częstotliwości – interaktywne widmo częstotliwości, interakcyjna gęstość widma mocy, autokorelacja i interkorelacja
• izotropia, kierunkowość i okresowość – dominujące kierunki powierzchni na róży kompasowej i obliczanie parametrów
• odszumianie powierzchni za pomocą edytora wykresów FFT
• dyskretne filtrowanie falkowe (powierzchnie 3D i profile 2D) — wizualizacja powierzchni lub profilu na wielu poziomach skali — wybór poziomów skali chropowatości i falistości
• dekompozycja falkowa ciągła – badania poziomów skali i lokalizacji przestrzennych, w których występują zjawiska

Analiza 4D.

• łączenie serii powierzchni lub przekonwertowanych obrazów do analizy 4D w odniesieniu do czasu, temperatury, pola magnetycznego lub innego wymiaru.
• wizualizacja ewolucję powierzchni, profilu i punktu, lataj nad zmieniającą się powierzchnią i nagrywanie filmów do prezentacji
• statystyki dotyczące ewolucji parametrów chropowatości powierzchni
• Filtracja szumów i podświetlanie obszarów o różnym zachowaniu kinetycznym za pomocą transformacji Karhunena-Loève'a (analiza głównych komponentów)

Analiza korelacyjna

• kolokalizacja danych topografii powierzchni 3D i obrazy z różnych instrumentów (SEM, AFM itp.), aby podkreślić cechy powierzchni
• nakładanie obrazów na topografię 3D (oś z w jednostkach wysokości) lub na obrazy pseudo-3D (oś z w jednostkach intensywności)
• dostęp do szerokiej gamy opcji renderowania i ustawianie przezroczystość kolejnych warstw