Szybka i kompleksowa
optyczna inspekcja stanu powierzchni

Wzależności od produkowanego asortymentu wizyjna inspekcja może być przeprowadzana bezpośrednio przez człowieka lub przy użyciu odpowiednich narzędzi pomiarowych (np. mikroskopu, endoskopu). Problem pojawia się w momencie, gdy warunki akceptacji zdefiniowane są przez dopuszczalną wielkość wad powierzchniowych lub przy konieczności inspekcji trudno dostępnych obszarów. Również produkcja wielkoseryjna z wymogiem kontroli 100% produkcji wymaga zastosowania systemu zautomatyzowanego. Realizację takich zadań zapewniają systemy serii Visionline firmy Jenoptik, której oficjalnym przedstawicielem jest firma ITA Sp. z o.o. Sp. k. z siedzibą w podpoznańskim Skórzewie.

Rozwiązania Visionline obejmują szeroką gamę produktów do optycznej kontroli powierzchni serii IPS, jak również systemy dedykowane do realizacji konkretnych zadań inspekcyjnych oraz pomiarowych serii CCS. Systemy mogą stanowić autonomiczne stanowisko, ale są dedykowane głównie do integracji bezpośrednio w linii produkcyjnej. W serii IPS można znaleźć urządzenia przeznaczone do inspekcji otworów (IPS B5/B10/B100) oraz powierzchni płaskich (IPS F100/200/400 3D). Oba rodzaje pozwalają na automatyczną detekcję oraz określenie charakterystyki wad powierzchniowych, np.: pęknięć, zarysowań, porów oraz innych niedoskonałości powierzchni. Systemy CCS (R50 oraz C100) są przeznaczone do pomiaru struktury oraz kształtu powierzchni cylindrów, ale mogą być z powodzeniem stosowane również w innych wymagających aplikacjach.

Zasada działania urządzenia IPS serii B polega na wprowadzeniu głowicy wyposażonej w soczewkę o polu widzenia 360 o bezpośrednio do kontrolowanego otworu. Okręgi tworzące otwór są odwzorowywane na matrycy CMOS, a następnie łączone i przetwarzane przez oprogramowanie Evovis Vision. Kontrolowana powierzchnia jest przedstawiana w formie płaszczyzny, co znacząco ułatwia konfigurację odpowiednich parametrów oraz ocenę wyników. W portfolio znajdują się trzy systemy IPS B różniące się zakresem pomiarowym. Najmniejsza głowica B5 pozwala kontrolować otwory o średnicy od 5 do 14 mm na maksymalnej  głębokości 200 mm. Zakres pomiaru średnicy dla sensora B10 to 14-5 0mm na głębokości do 250 mm. Największy sensor B100 oferuje inspekcję średnic do 110 mm na głębokości 400 mm. Typowy cykl pomiarowy wynosi od kilku do kilkunastu sekund, a najwyższej jakości matryca kamery pozwala wyszukiwać wady o wielkości od 100 μm. Dzięki temu systemy IPS B idealnie nadają się do pełnego zautomatyzowania cyklu inspekcyjnego, który gwarantuje szybką i wiarygodną ocenę stanu powierzchni niezależnie od jej refleksyjności. Z tego względu znalazły one szerokie zastosowanie w różnych gałęziach przemysłu, w których stawia się bardzo wysokie wymagania względem powierzchni roboczych produkowanego asortymentu. Przykładowe części, dla których w procesie produkcyjnym stosuje się systemy IPS B, to: płyty zaworowe, obudowy pomp wtryskowych oraz zaworów hydraulicznych, pompy hamulcowe, a także bloki silnikowe.

Nieodłącznym elementem systemów IPS jest oprogramowanie Evovis Vision, które pozwala na wizualizację oraz ocenę zebranej powierzchni. Graficzny, zorientowany na prostotę obsługi interfejs użytkownika do kontroli i analizy gwarantuje, że możliwe jest łatwe i szybkie skonfigurowanie wymaganych parametrów pracy i oceny. Liczne funkcje i kreatory upraszczają korzystanie z oprogramowania i wystarczy kilka prostych kroków, aby dostosować system kontroli do konkretnej sytuacji. Kontrolowaną powierzchnię można podzielić na wiele obszarów, z których każdy będzie oceniany według indywidualnie określonych wytycznych. Oznacza to, że Evovis Vision umożliwia pełną kontrolę jakości powierzchni każdego przedmiotu zgodnie z wymaganym czasem cyklu produkcyjnego. W przypadku braku gotowej specyfikacji dopuszczalnych wad oprogramowanie umożliwia wykorzystanie sztucznej inteligencji, która dobiera parametry pracy oraz algorytmy oceny na podstawie szeregu wad wskazanych przez operatora.

Systemy CCS bazują na pomiarach przy użyciu metody konfokalno- chromatycznej. Przednia soczewka o dużej aberracji chromatycznej (silna dyfrakcja światła) jest przesuwana nad mierzoną powierzchnią. Jedynie skupione światło jest wystarczająco odbijane i analizowane przez spektrometr. Informacja o odległości jest zakodowana w długość fali odbitego światła i na tej podstawie odwzorowywany jest profil mierzonej powierzchni. Sensor CCS R50 przeznaczony jest do pomiaru mikrostruktury powierzchni cylindrów i może wykonywać również pomiary jej topografii. CCS C100 jest w stanie precyzyjnie odwzorować kształt profilu powierzchni cylindrów, który powstaje podczas procesu obróbczego. Oba modele systemów CCS mogą zarówno stanowić manualne stanowisko pomiarowe, jak i zostać zaimplementowane bezpośrednio w linii produkcyjnej. Mogą zostać również zintegrowane z systemami IPS (np. IPS B100) tworząc kompleksowy system oceny stanu powierzchni cylindrów.

Seria Visionline stanowi doskonały przykład, że firma Jenoptik nastawiona jest na stały rozwój oraz opracowywanie nowych, pionierskich rozwiązań. Najwyższa jakość produktów oraz szerokie grono zadowolonych klientów są tego najlepszym dowodem. Dzisiaj Jenoptik może pochwalić się produktami wykorzystywanymi z powodzeniem w nowoczesnym przemyśle nastawionym na innowacyjne rozwiązania inspekcyjne. Produkty serii Visionline oraz inne systemy pomiarowe firmy Jenoptik znajdują się w ofercie firmy ITA Sp. z o.o. Sp. k.