Specjalista, praktyk z wieloletnim doświadczeniem w dziedzinie szeroko pojętych badań grubości warstw oraz składu pierwiastkowego. Piotr Szulc ma za sobą dziesiątki wdrożeń systemów XRF w warunkach laboratoryjnych oraz produkcyjnych oraz niezliczoną liczbę wdrożeń elektromagnetycznych mierników grubości powłok. Dzięki dogłębnej znajomości szerokiego wachlarza metod pomiaru i czynników, które ten pomiar mogłyby zakłócić w krótkim czasie jest w stanie dobrać optymalną metodę dla danego zadania pomiarowego.

• Pomiar grubości cynku oraz cynko-niklu na drobnych elementach
• Powłoki galwaniczne w przemyśle motoryzacyjnym, lotniczym i elektronicznym
• Jednoczesny pomiar grubości farby i cynku
• Pomiar grubości farby proszkowej przed polimeryzacją
• Analiza składu złota oraz wyrobów jubilerskich
• Optymalizacja procesów kontroli jakości w przemyśle powłokowym